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LZT-Meter (LZT L33) 導(dǎo)熱系數(shù)/塞貝克系數(shù)聯(lián)測(cè)儀
- 公司名稱 林賽斯（上海）科學(xué)儀器有限公司
- 品牌 LINSEIS/林賽斯
- 型號(hào) LZT-Meter (LZT L33)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2026/2/5 15:44:07
- 訪問(wèn)次數(shù) 16261
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德國(guó)LINSEIS公司是專業(yè)研發(fā)和制造熱分析儀器生產(chǎn)商，總部位于德國(guó)巴伐利亞州澤爾布。自1957年成立至今，德國(guó)LINSEIS一直致力于研發(fā)生產(chǎn)熱分析及熱物性設(shè)備，為全球廣大用戶提供熱分析領(lǐng)域解決方案。
林賽斯（上海）科學(xué)儀器有限公司主要服務(wù)于廣大中國(guó)區(qū)用戶，提供LINSEIS熱分析儀器售前、銷售及售后全方面服務(wù)。為更好的響應(yīng)客戶需求，目前在北京、上海、香港均設(shè)有服務(wù)機(jī)構(gòu)，已形成了立足京滬、橫跨南北、覆蓋全國(guó)的服務(wù)體系。位于北京的應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室，及與高校研究院成立的聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室均能更進(jìn)一步與廣大用戶共同探討熱分析應(yīng)用方面的解決方案。
LINSEIS除了提供全線熱分析標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（差示掃描量熱儀、熱天平、同步熱分析儀、熱膨脹儀、熱膨脹相變儀、熱機(jī)械分析儀、導(dǎo)熱測(cè)試儀、激光導(dǎo)熱儀、熱電材料測(cè)試儀、塞貝克/電阻分析儀、熱界面材料測(cè)量系統(tǒng)、熱質(zhì)聯(lián)用儀等），還提供為客戶量身定制的熱分析測(cè)量設(shè)備。LINSEIS寬廣的測(cè)量響應(yīng)條件（-263 至 2800℃，最高350bar）可廣泛應(yīng)用于聚合物、化工、金屬/合金、陶瓷/玻璃/建材、熱電材料、核工業(yè)、航空航天等領(lǐng)域。
熱擴(kuò)散/導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀，熱膨脹儀，薄膜物性分析儀，同步熱分析儀，熱重分析儀，差示掃描量熱儀，熱機(jī)械分析儀，塞貝克系數(shù)測(cè)定儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 激光閃點(diǎn)法 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
林賽斯 導(dǎo)熱系數(shù)/塞貝克系數(shù)聯(lián)測(cè)儀 LZT-Meter（LZT L33）可以通過(guò)在單個(gè)設(shè)備中組合激光導(dǎo)熱儀和塞貝克系數(shù)測(cè)量?jī)x來(lái)確定熱電優(yōu)值（ZT值）的商用儀器。因此，該測(cè)量設(shè)備既可以通過(guò)使用激光閃射法獨(dú)立測(cè)定導(dǎo)熱系數(shù)，也能夠通過(guò) LSR 測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量電阻率和塞貝克系數(shù)。
其優(yōu)勢(shì)顯而易見(jiàn)：導(dǎo)熱系數(shù)/塞貝克系數(shù)聯(lián)測(cè)儀 這種集成式設(shè)計(jì)既能節(jié)省昂貴的實(shí)驗(yàn)室空間，又能節(jié)省因配備雙爐體、測(cè)量電子設(shè)備和其他設(shè)備而產(chǎn)生的不必要費(fèi)用。因此，對(duì)于那些重點(diǎn)不在于高樣品處理量，而在于測(cè)量質(zhì)量和成本效益的研發(fā)應(yīng)用來(lái)說(shuō)，LZT L33 測(cè)量?jī)x是理想的解決方案。因?yàn)閷?duì)于樣品的完整熱電優(yōu)值（ZT）特性表征而言，僅需一個(gè)圓盤形狀的樣品就足夠了。
該設(shè)備還可選配三種不同的加熱爐：一種新型紅外爐（用于在非常高和極低的加熱速率下進(jìn)行精確的溫度控制）以及低溫爐和高溫爐。
- 組合測(cè)量（將激光閃射法測(cè)量和塞貝克系數(shù)測(cè)量集成在一臺(tái)設(shè)備中）
- 模塊化加熱爐（有多種爐體可供選擇，以滿足特定需求。）
- 寬廣的溫度范圍（-100 - 1100℃）
- 經(jīng)濟(jì)實(shí)惠且節(jié)省空間（得益于其集成化的設(shè)計(jì)，節(jié)省了實(shí)驗(yàn)室空間并降低了成本。）
- 高精度（幾何誤差小，且環(huán)境條件相同）
| 類型 | LZT-Meter (LZT L33) | ||
| 溫度范圍： | 紅外加熱爐：RT - 800°C / 1100°C 低溫爐：-100°C - 500°C | 導(dǎo)熱 | |
| 測(cè)試方法： | 塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流法/斜率法 電阻：四端法 | 脈沖源： | Nd：YAG 激光器（25 J/pulse） |
| 測(cè)量原理： | 基于芯片構(gòu)造 (預(yù)結(jié)構(gòu)化的測(cè)量芯片，每盒 24 個(gè)) | 脈沖寬度： | 0.01 - 5 ms |
| 氣氛： | 惰性、還原性、氧化性、真空環(huán)境 氦氣：建議使用低壓氦氣 | 探測(cè)器： | InSb / MCT |
| 樣品支架： | 在兩個(gè)電極之間垂直夾緊 用于箔和薄膜的可選適配器 | 導(dǎo)熱系數(shù)： | 0.01 - 1000 mm2/s |
樣品尺寸： (圓柱體或矩形) | 2-5 mm (邊長(zhǎng)/直徑) x 6-23 mm (高) | 插件： | LSR-4 升級(jí) |
樣品尺寸： (圓盤形狀) | 10、12.7、25.4 mm | 直流哈曼法： | 在熱電腿上直接測(cè)量 ZT |
| 熱電偶測(cè)量距離： | 4、6、8 mm | 交流阻抗譜： | 在熱電模塊（TEG/Peltier 模塊）上直接測(cè)量 ZT |
| 冷卻水： | 需要 | 溫度范圍： | -100 - 400 °C RT - 400 C °C |
| 塞貝克系數(shù) ： | 1 μV/K - 250 mV/K（靜態(tài)直流法） | 樣品架： | 用于絕熱測(cè)量條件的針式觸點(diǎn) |
| 電導(dǎo)率： | 0.01 - 2×105 S/cm | 樣品尺寸： | 2 - 5 mm (邊長(zhǎng)/直徑) x 6 - 23 mm (高) 模塊尺寸為 50 x 50 mm |
| 電源： | 0 至 160 mA 的低漂移電流源 | ||
| 電極材料： | 鎳（-100 至 500 °C） 鉑（-100 至 1500 °C） | ||
| 熱電偶： | 型號(hào) K / S / C | ||
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