bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100

bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100

具備高性價比的 ContourX-100 光學輪廓儀為精確的、可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。

該系統占地面積小，所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的白光干涉（WLI）創新技術，具有強大的二維/三維高分辨測量能力。

新一代增強功能包括全新的 5MP 攝像頭和更新平臺，實現更多縫合功能，并新增一個測量模式 USI，提升了精加工表面、厚膜和摩擦學應用測量時的便捷性和靈活性。ContourX-100 堪稱性價比高的臺式系統。

計量能力

ContourX-100 輪廓儀是布魯克40多年來在非接觸式表面計量、表征和成像領域專有光學創新的結晶。

該系統利用三維 WLI 和二維成像技術，一次采集可執行多次分析。

ContourX-100 在反射率 0.05% 到 100% 的所有表面情況下都能發揮穩定性能。

價值和分析

ContourX-100 臺式可執行數千種自定義分析，并采用布魯克簡單而強大的 VisionXpress 和 Vision64 用戶界面，提升了實驗室和工廠的生產效率。

軟硬件結合，實現簡便操作下的高效率光學性能，全面*計量技術。