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    化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>光學測量儀>其它光學測量儀>Exicor-OIA 應力雙折射

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    Exicor-OIA 應力雙折射

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    北京昊然偉業光電科技有限公司成立于 2010 年,專業代理歐美(德國、瑞士、美國、波蘭等)高精度的光學檢測設備,致力于為科研和工業客戶提供光學檢測解決方案及包括售前、售中及售后在內的服務。主要包括:
    光學檢測產品:應力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測量系統/剪切干涉儀/非接觸式測厚儀/測角儀/可調相位延遲波片等;
    激光檢測產品:激光功率計、能量計及光束質量分析儀等;
                             集成系統所需的激光器、步進位移平臺、偏振光轉換器等
                             顯微系統所需的XYZ電動載物臺、波片進片機、高速相機ICCD、像增強器300ps門控時間、FLIM、高精度脈沖延時器等。
                             值得一提的是,近年來公司科研團隊自主研發PCI弱吸收測量儀,CRD光腔衰蕩法高反測量儀,偏心曲率測量儀等產品,為今后的發展壯大奠定了堅實的基礎。

    測角儀,應力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設備,波片相位延遲,剪切

    產地類別 進口 價格區間 面議
    應用領域 醫療衛生,能源,電子/電池,道路/軌道/船舶
      Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要應力雙折射測量系統。該系統是建立在Hinds lnsrtuments光彈調制器( PEM)基于Exicor®雙折射測量技術。新一代的雙折射測量系統為該行業提供了分析和開發下一代光刻透鏡、透鏡毛坯和高價值精密光學的新能力。
     
      該系統利用PEM調制光束的偏振狀態、優良探測和解調電子來測量光學如何改變偏振狀態。這就導致了一個偏振狀態相對于另一個偏振狀態的光延遲測量結果是90。。利用這些數據可以對雙折射、快速軸向和理論殘余應力進行評估。在平板透鏡和己完成透鏡的研究和生產中, Hinds Instruments的Exicor斜入射角技術被用于評估光學應力雙折射。
     


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