ANALECT_DiamondMX 過程分析儀

ANALECT_DiamondMX 過程分析儀

堅固，可靠，臺式或機架安裝FTIR/FT-NIR過程分析儀

ANALECT_DiamondMX 過程分析儀通過一臺儀器同時實時監測多個點位的液體或固體的物理性質和化學成分 , 臺式或機架安裝選項 ,多功能在線與現場過程監控和最終產品檢驗。

SpectraRTS提供靈活的系統設置和控制，廣泛的診斷，易于使用的腳本和強大的DCS通信。交互式通信允許在改變混合類型時自動切換模型集，從而大限度地提高混合測量效率。

分析儀的性能

•干涉儀十字型密封模塊與折射掃描設計；帶固定角立方鏡 的精密交叉滾子軸承。

•光譜范圍: 擴展中紅外7,400至450 cm-1;近紅外12000

到1200 cm-1.

•分 辨 率: 1.5 cm-1 (非變跡); 2 cm-1 (變跡).

•掃描速度: 自動優化的探測器類型或軟件可選擇的特定應用。自適應數字伺服驅動器采用激光正交法作為正位參考。

•切趾函數: 標準功能可選擇14個鍵位。

•紅外源: 內部，風冷，高效率反射球。

•信號轉換: 計算器模塊可選增益，高通和低通濾波器，以及延遲補償。高精度，24位 Sigma Delta ADC.

•采樣光模塊: 內部聚焦光束，外部準直光束。

•光標讀書: 連續，橫坐標單位為cm-1或納米，%T或吸光度單位。

•檢測器: 標準熱釋電 DTGS。