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    化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>工藝測量和檢測設備>晶圓缺陷光學檢測設備>LODAS™ – AI50/100 Photomask Blanks缺陷檢查裝置

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    LODAS™ – AI50/100 Photomask Blanks缺陷檢查裝置

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    岱美儀器技術服務(上海)有限公司(Dymek Company Ltd ,下面簡稱岱美)總部設在中國香港,成立于1989年,是一間擁有多年經驗的高科技設備分銷商,主要為數據存儲、半導體、光通訊、高校及研發中心提供各類測量設備、工序設備以及相應的技術支持,并與一些重要的客戶建立了長期合作的關系。自1989年創立至今,岱美的產品以及各類服務、解決方案廣泛地運用于中國香港,中國大陸(上海、東莞、北京),中國臺灣,泰國,菲律賓,馬來西亞,越南及新加坡等地區。


    岱美在中國大陸地區主要銷售或提供技術支持的產品:

    晶圓鍵合機、納米壓印設備、紫外光刻機、涂膠顯影機、硅片清洗機、超薄晶圓處理設備、光學三維輪廓儀、硅穿孔TSV量測、非接觸式光學三坐標測量儀、薄膜厚度檢測儀、主動及被動式防震臺系統、應力檢測儀、電容式位移傳感器、定心儀等。


    岱美重要合作伙伴包括有:

    Thetametrisis, EVG, FSM, Opto-Alignment, Herz, PLSINTEC, Film Sense, Reditech, Lazin, Delcom, Microsense, Shb, boffotto, RTEC, Kosaka, Nanotronics, MTInc, 4D, Daeil, Microphysics,

    n&k Technology, First Nano, Schmitt, LESCO, Otsuka, STI, Kurashiki, Ryokosha, SURAGUS, Westbond...


    如有需要,請聯系我們,了解我們如何開始與您之間的合作,實現您的企業或者組織機構長期發展的目標。






    膜厚儀,輪廓儀,EVG鍵合機,EVG光刻機,HERZ隔震臺,Microsense電容式位移傳感器

    列真株式會社自創業以來,秉承“挑戰”、“創造”、“誠實”的經營理念,為顧客提供可靠、可信的產品和服務。運用激光掃描技術,專門制造、銷售半導體材料表面及內部檢查、石英玻璃表面檢查等檢查裝置。


    特征:

    • 半導體用Photomask Blanks的出廠檢查、工藝評價

    • 用微分干涉顯微鏡分析缺陷

    • 檢查對象:Photomask Substrate、Cr、Resist、MoSi

    • 檢查項目:顆粒、內部缺陷(Option)

    • 檢查靈敏度:PDM缺陷尺寸0.1μm(AI00)

    列真公司檢查裝置的維護、修理

    • 定期支持裝置安裝完成后的性能維持。

    • 24小時電話對應,全年無休的安心支持。

    • 認真對待客戶新的要求。

    • 召開技術研討會和充實各種手冊,讓顧客能夠自行維護和更換零件。

    • 提供HDD、激光光源等消耗品的免費診斷服務。






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