國產原子力顯微鏡
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- 公司名稱 蘇州飛時曼精密儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2026/1/29 11:29:03
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| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 10萬-50萬 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 原子力顯微鏡 | 應用領域 | 化工 |
一、什么是原子力顯微鏡？
原子力顯微鏡是一種具有納米級甚至原子級分辨率的超高分辨率掃描探針顯微鏡。它的核心原理非常簡單：通過一個極細的探針在樣品表面輕輕“觸摸”或掃描，來感知樣品表面的三維形貌和物理性質。
最令人驚嘆的是，AFM不需要像電子顯微鏡那樣必須在真空環境下工作，它可以在大氣環境、液體環境、甚至真空中操作。這使得它能夠觀測生物大分子(如蛋白質、DNA)、活細胞等無法在電子顯微鏡下直接觀察的樣品，這是它的一項巨大優勢。
二、工作原理
AFM的工作原理類似于古老的唱片機唱針讀取唱片溝槽，但精度要高無數個數量級。其核心組成部分包括：
1、微懸臂梁： 一個極富彈性的微小懸臂。
2、探針： 位于懸臂梁末端的一個極其尖銳的針尖，曲率半徑可達納米級別。
3、激光發射與位置檢測系統： 一束激光打在懸臂梁的背面，并反射到一個四象限的光電探測器上。
4、壓電掃描器： 一種能夠實現納米級精確定位的陶瓷材料，可以控制探針或樣品在X, Y, Z三個方向上進行精確移動。
工作過程(以接觸模式為例)：
1、接觸： 將尖銳的探針逐步逼近樣品表面，直到它與樣品表面的原子產生微弱的相互作用力(主要是范德華力)。
2、掃描： 壓電掃描器帶動探針在樣品表面進行逐行掃描(柵掃描)。
3、感知形變： 當探針掃描到表面有起伏的地方時，針尖與樣品之間的作用力會發生變化，導致微懸臂梁發生彎曲(形變)。
4、檢測形變： 懸臂梁的彎曲會改變反射激光束的方向，從而在光電探測器上光斑的位置發生變化。這個位置變化被精確地記錄下來。
5、反饋循環： 系統通過一個反饋回路，實時調整壓電掃描器在Z方向的高度，以保持懸臂梁的形變(即探針與樣品之間的作用力)恒定。
6、成像： 計算機記錄下掃描器在每一點(X, Y坐標)上為保持力恒定所需要的Z方向高度變化值。將這些數據組合起來，就得到了樣品表面的三維形貌圖。
三、主要工作模式
AFM有多種工作模式，以適應不同的樣品和測量需求，主要分為三類：
1. 接觸模式
原理： 探針與樣品表面直接接觸(斥力模式)，懸臂梁與樣品表面的距離小于零點幾個納米。
優點： 分辨率高，掃描速度快。
缺點： 橫向力可能對柔軟樣品(如生物樣品)造成損傷或移動。
2. 輕敲模式
原理： 使微懸臂梁在其共振頻率附近發生振蕩，探針僅在每個振蕩周期的底部短暫地“輕敲”樣品表面。通過檢測振蕩振幅的變化來反饋表面形貌。
優點： 極大地減少了橫向力，非常適合觀察柔軟、易碎或粘附性強的樣品(如生物、高分子材料)，是應用廣泛的模式之一。
缺點： 掃描速度略慢于接觸模式。
3. 非接觸模式
原理： 探針在樣品表面上方振動(距離幾到幾十納米)，通過檢測樣品與針尖之間的長程作用力(如范德華力、靜電力)的變化來成像。
優點： 對樣品幾乎零損傷。
缺點： 分辨率較低，通常需要在真空環境中操作以排除空氣阻尼的干擾。
四、主要應用領域
AFM的強大功能使其在眾多領域中應用：
1、材料科學：
觀察納米材料(如石墨烯、碳納米管)的形貌和結構。
研究金屬、半導體、陶瓷等材料的表面粗糙度、晶粒邊界、缺陷。
分析高分子材料的相分離、晶體結構等。
2、生命科學與生物學：
成像： 直接觀察DNA、RNA、蛋白質等生物大分子的結構，甚至能在液體環境中觀察生物過程的動態變化。
力學性質測量： 通過力曲線測量，研究活細胞的彈性(剛度)、細菌的粘附力、蛋白質間的相互作用力等。
3、納米技術：
納米操縱： 移動單個原子或分子，構建納米結構。
納米加工： 利用AFM針尖對材料表面進行刻蝕、氧化，實現“直寫”式加工。
4、半導體工業：
測量集成電路的線寬、深度，進行失效分析。
檢測半導體器件的表面質量。
五、原子力顯微鏡結構特性：
◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩定可靠；
◆ 精密激光及探針定位裝置，更換探針及調節光斑簡單方便；
◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，準確定位掃描區域，使針尖垂直于樣品掃描；
◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；
◆ 高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，可根據不同精度和掃描范圍要求選擇；
◆ 10X復消色差物鏡光學定位，無需調焦，實時觀測。
六、原子力顯微鏡技術參數：
| 基本工作模式 | 接觸模式、輕敲模式、F-Z力曲線測量、RMS-Z曲線測量 |
| 選配工作模式 | 摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力和靜電力 |
| 樣品尺寸 | Φ≤90mm，H≤20mm |
| 掃描范圍 | XY向50um，Z向5um(可選配XY向110um，Z向10um) |
| 掃描分辨率 | XY向0.2nm，Z向0.05nm |
| 樣品移動范圍 | 0~20mm |
| 光學放大倍數 | 10X，光學分辨率1um(可選配20X，光學分辨率0.8um) |
| 掃描速率 | 0.6Hz~4.34Hz，掃描角度0~360° |
| 掃描控制 | XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A |
| 數據采樣 | 14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣 |
| 反饋方式 | DSP數字反饋 |
| 反饋采樣速率 | 64.0KHz |
| 通信接口 | USB2.0/3.0 |
| 運行環境 | WindowsXP/7/8/10操作系統 |
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