JMS-T2000GC 日本jeol氣相色譜飛行時間質譜聯用分析儀
| 參考價 | ￥ 59878 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 深圳秋山工業設備有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 JMS-T2000GC
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2026/1/19 11:00:18
- 訪問次數 118
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| 應用領域 | 化工,生物產業,電氣,綜合 |
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日本jeol氣相色譜飛行時間質譜聯用分析儀
日本jeol氣相色譜飛行時間質譜聯用分析儀
核心技術1：追求高性能的飛行時間質譜技術
AccuTOF™ GC-Alpha 是第六代GC-TOFMS產品，離子光學系統采用與傳統V字形相反的構型。設備名稱"Alpha"表示從側視圖看到的離子軌跡呈倒V字形（A形）
關鍵技術創新：
- 4米飛行距離：大幅增加離子飛行距離以提高分辨率
- 雙級反射電場：采用新型雙級電場梯度反射器
- 寬能量范圍離子傳輸系統：對應不同能量范圍的離子
性能提升：相比1代AccuTOF™ GC，分辨率提高6倍，質量精度達到1ppm
核心技術2：多種軟離子化技術提供新的定性分析世界
多離子化方法支持：
- EI法（電子轟擊）：標準硬離子化方法，有豐富的譜庫支持
- FI法（場致電離）：超軟離子化，分子離子內能極少，適合分子量確認
- FD法（場致解吸）：直接涂布在發射器上，適合熱不穩定化合物
- PI法（光電離）：使用真空紫外燈，對芳香族化合物有選擇性
特色離子源：
- EI/FI/FD共用離子源：無需更換離子源或解除真空
- EI/PI共用離子源：通過開關燈絲和VUV燈即可切換
核心技術3：追求簡單快速的新一代自動解析軟件
msFineAnalysis AI軟件：
- 集成分析：結合GC/EI數據和GC/軟離子化數據
- AI結構解析：3種AI（主AI、輔助AI、RI預測）自動進行結構解析
- 高效解析：最小化解析時間，讓研究人員專注于結果討論和研究
特色功能
直接MS模式（無需GC分離）
支持3種直接MS探頭：
- DEP（直接暴露探頭）：適合高沸點/熱不穩定化合物
- DIP（直接插入探頭）：適合固體樣品
- FDP（場致解吸探頭）：適合高分子量樣品
聚合物分析
結合FD法和KMD（Kendrick質量缺陷）解析，可有效分離和分析聚合物混合物
應用領域
- 未知物定性分析：EI+軟離子化+精確質量解析
- 復雜混合物分析：GC×GC二維色譜分析
- 高沸點化合物分析：直接MS模式
- 聚合物表征：高分子量、難揮發性化合物
- 環境分析：微量污染物檢測
- 食品安全：殘留物分析
- 代謝組學：生物樣品分析
- 材料科學：新材料表征
產品優勢
- 超高分辨率：30,000分辨率確保相鄰質量離子分離
- 亞ppm級質量精度：1ppm質量精度確保分子式確定
- fg級靈敏度：18.7fg儀器檢出限，檢測超微量成分
- 多種離子化方式：EI/FI/FD/PI自由切換，適應不同分析需求
- AI輔助解析：智能化軟件降低分析門檻
- 寬質量范圍：m/z 6,000范圍覆蓋常規GC-MS無法檢測的高分子量化合物
- 高速數據采集：50Hz數據采集率匹配GC×GC等快速分離技術
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