KC 凱視邁材料臺式掃描電子顯微鏡

凱視邁材料臺式掃描電子顯微鏡

南京凱視邁科技有限公司推出的KC-X3000 系列三合一精測顯微鏡，是集形貌掃描、超景深觀察、融合測量三大核心功能于一體的全新一代 3D 測量顯微鏡，依托激光光譜共焦核心技術、高精密運動控制平臺和全新一代圖像分析軟件，實現非接觸、高精度、高效率的樣品微觀形貌獲取與分析。產品以廣視野、高精度、快速度、多適配為核心特性，打破傳統測量儀器單功能局限，一臺設備替代三維形貌儀、超景深顯微鏡、輪廓測量儀多臺設備，廣泛應用于半導體、鋰電、光伏、3C、航空航天、精密加工制造及新材料研發等領域，是國產光學精密測量儀器的產品。

凱視邁材料臺式掃描電子顯微鏡：

一、核心定位：一站式光學精密測量解決方案

KC-X3000 系列聚焦各行業新型材料研究、精密工程技術研發、工業生產質量檢測的核心需求，可非接觸式高精度獲取樣品表面微觀形貌，生成基于高度的彩色三維點云，實現數據全程圖形化顯示、處理、測量與分析。產品適配透明、強反光、弱反光等多材質樣品，即便樣品顏色、材質、反射率、表面斜率及環境溫度存在明顯差異，仍能保證重復測試的穩定性，為科研實驗與工業品控提供精準、可靠、高效的數據支撐。

二、核心優勢：四大特性打造測量體驗升級

1. 廣視野大尺度，無需頻繁換鏡

可測量樣品平面尺寸覆蓋亞微米級，支持超高精度圖像拼接、深度合成，滿足復雜結構樣品的測量需求。

2. 高精度高穩定，測量結果可靠

搭載超高像素無畸變相機和光譜共焦掃描模組，不受樣品材質影響，精準探知物體高度，可實現圓心距、半徑、高度差等參數的精準測量，且環境適應性強，溫濕度小幅波動不影響測試穩定性。

3. 快速度高效率，大幅節省時間

從底層優化測試流程，僅需樣品放置 + 視覺選區兩步操作，設備自動完成后續所有測試；測量鏡頭與激光鏡頭齊焦設計，掃描樣品的同時可在多臺 PC 上進行測量、分析、生成報告，打破傳統單線程操作限制，批量檢測效率大幅提升。

4. 多模式多適配，覆蓋全場景需求

集成形貌掃描、超景深觀察、融合測量三大核心模式，實現高度 - 紋理 - 色彩融合，既獲取三維高度信息，又保留樣品光強、色彩等表面特征；配備內外環多分區可控光源,支持外環、內環、自由分區打光控制，可根據樣品特性調整光源，解決透明、強反光樣品觀測對比度低的問題。

三、典型應用場景包括：

半導體 / 微電子：硅片劃痕 / 缺陷檢測、晶圓銅柱凸塊測量、MEMS 芯片微觀結構觀測、芯片封裝形貌分析；

鋰電 / 光伏：電池極片形貌 / 粗糙度檢測、光伏電池片平面度 / 缺陷檢測、極片涂層均勻性分析；

3C / 精密加工：PCB 板線寬 / 孔位測量、手機面板玻璃劃痕檢測、軸類 / 軸承零件磨損 / 尺寸測量、注塑件缺陷品控；

航空航天 / 制造：發動機葉片磨損檢測、航空軸承表面質量評價、精密合金零件微形變檢測；

新材料研發：石墨烯 / 泡沫金屬形貌分析、金屬 3D 打印樣品成型質量檢測、電鍍 / 涂層樣品膜厚分析；

科研 / 其他：腐蝕防護、摩擦磨損等科研方向的樣品分析，青銅器銘文等文物的無接觸觀測，第三方檢測機構的批量樣品檢測。

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