X射線發射光譜儀 XEScope

X射線發射光譜儀 XEScope是一種能對元素的化學狀態進行定量、定性分析的表征設備，憑借精準的檢測能力和便捷的操作體驗，為多領域元素價態研究提供可靠技術支撐。

●超高靈敏度：可精準捕捉低含量(0.1 wt%)成分信息。

●高能量分辨率：≤0.5 eV，信號識別精準。

●化學態分辨：清晰區分同一元素的不同價態（如Si2+/Si4+、S2-/S?+），解析化學性質。

●原位測試：動態反應機理研究，精準還原成分分布、化學態變化的原位特征。

●覆蓋元素廣：可分析從輕元素（如Al、Si）到重元素（如U、Pb），滿足多領域需求。

●無損檢測：無需破壞樣品結構，適用于珍貴/稀有樣品分析。

●用戶界面友好：集成化軟件，操作簡單易上手。

X射線發射光譜儀 XEScope概述

聚焦表面價態信息，多樣品形態兼容

●表面信息精準捕捉：核心聚焦樣品表面元素組成與化學態，無需深度穿透，直接獲取表層關鍵數據，適用于涂層、薄膜等表面研究場景。

●多形態樣品無門檻：兼容固體（如塊狀、片狀）、液體（如溶液、乳液）、粉末等多種形態，無需客戶進行研磨、溶解等復雜前處理，直接上機測試。

●低量低含量友好：樣品需求量低至5 mg，微小晶體、少量粉末等特殊形態均可適配；支持質量分數為0.1%的樣品檢測，檢測范圍廣。

集成化軟件，精準定量分析

●操作便捷性：可實現全流程簡化操作——從測試條件確認到實際的數據解析無需復雜專業操作，用戶界面友好，極簡培訓需求。

●集成化軟件：配備功能完善的分析軟件，支持自動能量校準、擬合解析和定量分析，支持對同一元素對應的多組樣品進行批量檢測，軟件可批量計算分析結果并生成標準化報告，大幅提升檢測效率。

價態定量分析

●價態分析：利用標準樣進行能量校準和價態的定量偏移，可以求得測試樣品的價態信息

●占比分析：通過測試樣和標準樣的線性擬合，可計算測試樣品中的各價態含有量的比例

全自動化測試，覆蓋元素廣泛

●晶體自動切換:配備了晶體自動切換功能，可搭載6塊分析晶體，能夠覆蓋1.2 K eV-5 K eV的能量范圍。

●覆蓋元素廣泛:能夠對原子序數為13(Al)-23(V)和31(Ga)-90(U)的廣泛元素實現價態分析，其檢測范圍主要包括

13(Al)-23(V)的K光譜線、31(Ga)-59(Pr)的L光譜線和61(Pm)-90(U)的M光譜線，滿足從輕元素到重元素的多樣化檢測需求。

表征方式特征比較