樣品兼容性表現(xiàn)為,測試樣品尺寸可達直徑 210mm,厚度 15mm,大樣品臺可進行馬達驅(qū)動、編程控制,能自動進行多區(qū)域測量,可直接放置各種類型和尺寸的樣品,減少制樣時間。
成像技術(shù)與模式上,采用的 PeakForce Tapping® 技術(shù)和 ScanAsys 原子成像優(yōu)化技術(shù),有接觸模式、輕敲模式、相位成像、抬起模式等多種成像模式,還可提供納米機力學性能和電學模式,如相位成像、力譜、壓電響應(yīng)力顯微鏡、導電 AFM 和開爾文探針力顯微鏡等。
系統(tǒng)設(shè)計基于 Dimension Icon 平臺開發(fā),具有低漂移、低噪音的特點,配備溫度補償位置傳感器,由模塊化設(shè)計的低噪聲控制電子器件驅(qū)動,可將探針掃描的閉環(huán)噪聲級別降低至單個化學鍵長度的量級。
操作便捷性上集成可視化反饋和預(yù)配置設(shè)置,操作簡單方便,從接觸圖形界面,到選擇優(yōu)良操作模式,都有線性程序設(shè)置的邏輯化工作流程。
分析軟件如 Dimension EDGE PSS 版本集成了 AutoMET 軟件,具有操作員級別和工程師級別兩種操作模式,可實現(xiàn)一鍵完成多達 9 個晶圓 “合格 / 失敗" 的分類測試結(jié)果自動輸出,工程師還可設(shè)置所有 “通過 / 失敗" 檢測標準。









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