產(chǎn)品描述:
Santec PEM消光比測試儀采用特別技術(shù)制造,可實現(xiàn)1260~1630nm全波段測量,該消光比測試儀具有高的消光比測試精度、偏振角測試精度,能夠測量高達50dB的消光比,并且配備了GPIB接口,適用于偏振光軸調(diào)整的光學(xué)元器件裝配及保偏光纖熔接的質(zhì)量控制及檢測等領(lǐng)域。
技術(shù)參數(shù):
波長:1260~1630nm
PER測量動態(tài)范圍:50 dB
輸入功率:-40至+10 dBm/正常功率,-25至+20dBm/高功率
功率精度:<±0.3dB
電源:AC100-240
實現(xiàn)1260~1630nm全波段測量
配備了GPIB接口
適用于偏振光軸調(diào)整的光學(xué)元器件
具有高的消光比測試精度
采用一些技術(shù)制造
偏振角測試精度
保偏光纖熔接的質(zhì)量控制及檢測









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