產品描述
Agilent 8509B 是一款光波偏振分析系統，作為較早實現光信號與光組件校準偏振測量的設備之一，其核心能力源于硬件、軟件及算法的創新性突破。硬件上采用四二極管探測方案，覆蓋 1200 至 1600nm 波長范圍，內置 1300nm 與 1550nm 單波長法布里 - 珀羅激光器及自動三態偏振發生器，同時支持外接單波長或掃頻光源。該設備可助力深入理解光波信號與材料的偏振特性，為高性能光組件、光系統的研發及高效測試制造流程的搭建提供支持。
主要特點
校準偏振測量：支持光信號偏振狀態與偏振度的實時校準測量，偏振度測量不確定度在 1280-1340nm 及 1470-1580nm 波段為 ±2%，1200-1280nm 為 ±5%，1580-1600nm 為 ±3%。
極化狀態分析：可對光信號和光器件進行全面的極化狀態分析，測量速率超過 1000 次 / 秒。
PMD 測量功能：具備兩種自動化偏振模式色散（PMD）測量方法，包括波長掃描法和瓊斯矩陣特征分析法。
PDL 測量功能：可快速自動測量光學組件的偏振相關損耗（PDL），平均線性度達 ±0.6dB，平均測量不確定度為 ±15%。
光纖對準支持：提供極化保偏光纖的對準功能，適配 9/125μm 光纖類型。
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