產品概述：
OPAL-MD 多晶粒測試站通過準確、可重復、靈活和快速的硬件為集成光子學提供高性能表征。PILOT 軟件套件增強了 OPAL-MD 的硬件功能，提供自動化測試站和質量測量源，可轉化為可操作的數據。完整的應用程序套件是一個支持完整測試和測量流程的平臺，可幫助用戶更加以數據為導向。OPAL-MD與EXFO先進的光學測量功能相結合，對任何第三方儀器開放，是PIC測試的專用平臺。
該工作站的硬件包括一個電動 4 軸運動系統卡盤定位平臺，可選配熱控制。它還包括一個高分辨率頂部視覺系統和一個遠心側面視覺系統。該工作站最多可容納三個用于光學或電測頭的測頭。
基座運動系統和電動光學探頭的高分辨率和可重復性轉化為更低的光學測量插入損耗和誤差裕度，可以在多個芯片和電路上高效重復，在測試執行過程中無需任何人工干預。
產品特點：
在一次執行中實現多晶粒 PIC 表征
帶有可重新配置探頭的靈活設計
用于準備、執行和分析 PIC 測試數據的單一軟件套件
超精密光學頭 – 表面和邊緣耦合的理想選擇
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