思儀6362D光譜分析儀 600nm~1700nm

思儀6362D光譜分析儀 600nm~1700nm

產品概述

思儀6362D光譜分析儀，專為光通信研發與生產測試設計。具備高精度波長測量和寬動態范圍特性，可對DWDM系統、光器件及激光光源進行精確光譜分析，廣泛應用于器件制造、系統集成和網絡運維等領域。

綜述

6362D光譜分析儀（簡稱：光譜儀）是一款高分辨、大動態高速高性能光譜分析儀，適用于600nm～1700nm光譜范圍的DWDM、光放大器等光系統測試；LED、FP-LD、DFB-LD、光收發器等光有源器件測試；光纖、光纖光柵等光無源器件測試。

主要特點

20pm最小光譜分辨率

600nm～1700nm光譜掃描范圍

73dB大動態范圍

-90dBm最高靈敏度

支持空間光輸入

內置光源輸出配置可選

強大的多應用光譜數據分析功能

12.1英寸觸控顯示、全中文操作

介紹

20pm最小分辨率

6362D光譜分析儀（光譜儀）支持不同光譜分辨率的設置，多種光譜分辨率設置靈活切換，最小光譜分辨率優于20pm。

峰值檢索

6362D光譜分析儀（光譜儀）采用擁有自主知識產權的光譜自適應峰值檢索算法，峰值檢索準確度高，自適應性和魯棒性強，且運算速度快。

單縱模激光光譜分析

6362D光譜分析儀（光譜儀）具備多場景光譜分析功能，針對DFB-LD等單縱模激光光源，儀器提供閾值分析和邊模抑制比分析兩種分析方法，有效準確的評估單縱模待測光源的中心波長、光譜帶寬和邊模抑制比。

多種光電子器件應用分析功能

6362D光譜分析儀（光譜儀）可以對LED、FP-LD、DFB-LD、LD模塊等各類型激光器進行一鍵測試與分析，實現所有測試項目批處理。

除半導體激光光源光譜測量應用外，儀器還集成了光纖偏振模色散測量應用、波分復用應用、光纖放大器應用、波分復用濾波器應用、波分復用光纖放大器應用等光譜應用功能，下圖是典型的波分復用應用分析。

思儀6362D光譜分析儀 600nm~1700nm