雙PMT探測器是高靈敏度光電探測設備，核心結合光電倍增管（PMT）特性，實現微弱光信號的精準檢測。設備由兩個獨立PMT組成，各配備專屬光陰極、倍增系統及陽極輸出結構，雙路獨立設計可靈活實現雙信號同時處

本文詳細介紹X射線吸收精細結構譜儀的功能與性能，該儀器是專注于材料局域特性診斷的精密設備，核心功能為測量元素K/L吸收邊及其附近的吸收率變化，廣泛應用于材料研究領域，可精準分析核心原子的價態、配位數、

真空紫外光譜儀依托Seya-Namioka精密光路結構，入射狹縫和CCD探測器均位于羅蘭圓上，支持單色模式與光譜模式靈活切換，可滿足多場景精密光譜分析需求。其中，NIM型真空紫外光譜儀，廣泛應用于大科

要理解TableXAFS的價值，首先需要了解XAFS技術的本質。X射線吸收精細結構譜記錄了材料吸收X射線光子概率隨光子能量變化的細微振蕩。這些看似隨機的波動實則編碼了豐富信息：吸收原子周圍的局域結構、

TableXAFS是實驗室級小型化X射線吸收精細結構分析設備，擺脫了材料局域原子結構表征對同步輻射光源的依賴。通過緊湊設計與高性能組件集成，在常規實驗室即可實現媲美大型同步輻射裝置的功能，兼具體積小、

在真空紫外、極紫外光譜分析領域，寬譜與高精度探測需求推動設備迭代。超環面光柵單色器憑借像差校正技術與精簡設計，成為寬譜分析核心裝備，實現10-300nm穩定覆蓋，兼顧高分辨與高光通量，為前沿領域精準分

雙PMT探測器憑借高靈敏度、高增益、雙路協同/獨立探測及快速響應特性，廣泛應用于需精準捕捉微弱光信號的多領域，核心應用場景如下：一、生命科學與生物醫療1.熒光光譜分析：適配熒光顯微鏡、熒光分光光度計，

X射線吸收譜儀利用常規X光源實現X射線吸收精細結構（XAFS）光譜測量，對同步輻射等重大科技基礎設施及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器具有良好的補充拓展作用，豐富科研檢測技術支撐。該儀器采用小型化桌