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    EyeTech-EyeTech 激光光阻粒度粒形分析儀(激光粒度粒形分析儀)
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    • EyeTech-EyeTech 激光光阻粒度粒形分析儀(激光粒度粒形分析儀)

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    貨物所在地: 北京北京市
    地: 荷蘭
    更新時間: 2025-12-12 21:00:07
    期: 2025年12月12日--2026年6月12日
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    產品簡介

    EyeTech激光光阻粒度粒形分析儀能夠精確測量樣品尺寸、粒形和濃度,形成完整的顆粒大小表征。光阻技術(LOT)與視頻分析生成的綜合信息,結果可以顯示在大量的表格和圖表中,可以自定義以顯示所需的信息,可通過直觀的數據報告軟件訪問。這項技術提供了令人興奮的優點組合:測量是在單個顆粒上進行的,因此分辨率遠高于傳統衍射法;與傳統其他方法不同,測量系統無需校準,并且重要的是測量結果不依賴與被測樣品的物

    詳細介紹

    EyeTech 簡介

    EyeTech激光光阻粒度粒形分析儀能夠精確測量樣品尺寸、粒形和濃度,形成完整的顆粒大小表征。光阻技術(LOT)與視頻分析生成的綜合信息,結果可以顯示在大量的表格和圖表中,可以自定義以顯示所需的信息,可通過直觀的數據報告軟件訪問。這項技術提供了令人興奮的優點組合:測量是在單個顆粒上進行的,因此分辨率遠高于傳統衍射法;與傳統其他方法不同,測量系統無需校準,并且重要的是測量結果不依賴與被測樣品的物理/光學性質。

     

     

     

    激光光阻技術

    EyeTech激光光阻粒度粒形分析儀能夠精確測量樣品尺寸、粒形和濃度,形成完整的顆粒大小表征。光阻技術(LOT)與視頻分析生成的綜合信息,結果可以顯示在大量的表格和圖表中,可以自定義以顯示所需的信息,可通過直觀的數據報告軟件訪問。這項技術提供了令人興奮的優點組合:測量是在單個顆粒上進行的,因此分辨率遠高于傳統衍射法;與傳統其他方法不同,測量系統無需校準,并且重要的是測量結果不依賴與被測樣品的物理/光學性質。

     

     

    EyeTech Combi 特點

    ◆ 超高分辨率:可記錄每個顆粒數據

    ◆ 無水合作用影響:直接測量真實粒徑

    ◆ 無需額外參數:與物理光學性質無關

    ◆ 多參數表征:粒徑濃度均可檢測

    ◆ 測量方法:無需準直或標定更寬的濃度范圍:與其他測量方法相比,

    ◆ 可檢測更低或更高濃度的樣品

     

     

    EyeTech Comb應用

    精確分析和表征球形,非球形及細長顆粒。

    同時獲得粒度濃度和形狀結果

    模塊化設計適用于一系列干濕應用

    操作過程中樣品的實時可視化

    可以分析液體,乳劑,干粉,纖維,磁性顆粒,加熱液體和氣霧劑中的顆粒

     

     

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