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    德國Werth工業CT測量機介紹

    來源:德瑞華測量技術(蘇州)有限公司    2021年10月25日 15:50  

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    1、德國WERTH工業CT測量機設備原理及設備用途

    在真空環境的X射線管內,其陰極鎢絲受熱釋放大量電子,逃逸電子通過加速電場后快速轟擊陽極靶,從而產生大量X射線能譜和熱量。X射線穿透工件時從而導致能量的衰減,被測工件中的高密度物質吸收大量的X射線能譜,而低密度的物質則直接被穿透。X射線接收器(探測板)根據X射線能譜的衰減從而形成相關的2D圖像。軟件根據工件在360°旋轉過程中采取的一系列2D圖像,經過特殊算法重構出其實際體素。

    一臺設備實現兩種技術,三坐標測量技術及X射線斷層掃描技術,通過三坐標測量技術保證各軸向穩定的精度,通過X射線技術實現產品內外部掃描,既能實現測量的高精度,更能保證測量的全面性。

    通過CT掃描、圖形處理成像生成3D重建模型,實現產品360°范圍無損可視化全尺寸及形位公差等準確測量,同時可進行內部缺陷檢測、裝配內部結構評估、材料結構分析、內部微觀尺寸測量、編程自動尋邊測量等,對塑料、鋼材料、鋁材料、非金屬材料等進行檢測,可實現對點、線、圓、圓柱、圓錐等基本元素的測量及構建,支持垂直度、平行度、位置度等形位公差評估、3D最佳擬合及公差擬合軟件進行輪廓匹配分析和三維CAD工件公差比對等。

    2、德國WERTH工業CT測量機主要技術指標

    2.1、適用范圍:

    在無損測量產品或工件的條件下,適于對金屬、非金屬、復合材料零部件實現內外部尺寸高精密測量及缺陷檢測分析,以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式直觀地顯示被檢測物體內部結構、裝配組成以及尺寸和缺陷情況,通過測量軟件在產品或工件上建立測量坐標系統,從而確定被測產品工件內部缺陷的尺寸大小,實現復雜零部件內外尺寸高精度測量和缺陷分析。

    2.2、X射線源:

    2.2.1、X射線管最大電壓:300KV;最大功率:80W

    2.2.2、X射線管燈絲工作時間:1500h-2000h,更換時可即插即用。

    2.3、設備精度:

    2.3.1、分辨率:3μm

    2.3.2、測量精度:(3.5+L/100)μm,L為待測尺寸數值,單位mm,測量精度符合國際通用參考標準VDI2630;

    2.4、探測器

    2.4.1、有效面積:400mm×400mm;

    2.4.2、像素尺寸:200μm×200μm;

    2.4.3、射線源到探測器距離:1250mm;

    2.4.4、溫度穩定性:設備內部配置控溫系統,能夠實時進行溫度補償;

    2.4.5、抗輻射能力:≥300kV。

    2.5、檢測范圍

    2.5.1、最大樣品直徑:470mm;

    2.5.2、最大樣品高度:667mm;

    2.5.3、最大樣品重量:40kg;

    2.6、機械硬件移動

    2.6.1、機械系統移動精度:MPE-E:(4.5+L/75)μm,L為待測尺寸數值,單位mm,

    2.6.2、機械系統系統行程:X±400,Y:400,Z:800;

    2.7、安全防護系統

    2.7.1、采用鉛鋼防護,全封閉安全屏蔽室;

    2.7.2、提供觀察窗口

    2.7.3、安全防護屏蔽室:設備具有自鎖功能,只有在關閉所有外壁,X射線才能開啟,一旦開啟任何一扇外壁,X射線將自動關閉,并有開關警示燈顯示,滿足所有相關安全保護功能;

    2.7.4、X射線警告燈,當X射線開啟時,自動亮燈,起到警示作用,當出現異常情況時,具有報警功能;

    2.7.5、X射線漏射率 lt;1uSv/h,符合國家和國際標準共同標準;

    2.8、掃描重構軟件功能

    2.8.1、三維CT采集和重建功能,軟件投影采集和數據重建可同時進行;

    2.8.2、支持程序啟動自校功能;

    2.8.3、探測器具有校準功能;

    2.8.4、自動高分辨率圖像優化功能,通過預先對多個位置進行圖像采集,計算掃描過程中由于溫度漂移導致的形狀誤差,提高圖像質量;

    2.9、分析軟件功能

    2.9.1、高精度直接測量系統,要求可以基本尺寸測量、形位尺寸測量;

    2.9.2、掃描數據與標準模型進行比對分析功能;

    2.9.3、高分辨率擴展掃描CT功能,可實現對掃描數據的分析處理,包括圖像可視化、編輯處理、區域分割提取,支持多視角模式顯示,支持透視、表面模式、體渲染模式等,支持圖像優化處理;

    2.9.4、具備重構、測量、缺陷檢測分析等;

    2.9.5、具備點、線、面、圓柱、圓錐等測量創建及構建(提供相應技術證明文件)、具備垂直度、平行度、位置度等形位公差評價;



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