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SANKO山高 TO-250D 針孔測試儀 用于薄膜檢測 產品簡介
SANKO山高 TO-250D 針孔測試儀 用于薄膜檢測
SANKO山高 TO-250D 針孔測試儀 用于薄膜檢測
特別內容 一種低功耗、高電壓直流探測器，用于檢測數百微米或更小薄膜中的針孔，如氟樹脂。
它在針孔檢測和缺陷檢測中對電子設備和精密設備等薄絕緣膜非常有效。
規格
標準配件 電源線2米（帶可轉換插頭）
高壓柔性探針5米（帶刷子支架）
接地線5米（帶大口夾）
接地線5米（帶夾子）
遠程開關5米（帶連接器）
扁平式刷電極（300X30毫米，黃銅）
探頭外殼
動力來源 AC85~264V 50/60Hz（斷路器3A）
尺寸 320（西）×230（D）×70（高）毫米
重量 約3.2公斤
類型 直流高壓脈沖放電式
輸出電壓 1 ~ 5 kV（可變）
安全探測距離 0.3 ~ 5kV 短路電流 2.0mA或更低
報警方法 臺燈，地面面板上的蜂鳴器
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