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復享儀器的旗艦產品PG4000系列科研級高分辨光纖光譜儀采用特殊光學設計和高像素CCD，能夠提供zui高0.035nm的光學分辨率，為激光表征、氣體吸收測量和等離子分析等應用提供*的光譜測量。PG4000高分辨光纖光譜儀可以配備經特殊紫外敏化處理的深紫外CCD，能夠將光譜探測范圍拓展至深紫外波段。PG4000系列光纖光譜儀具有高分辨率同時具有高性價比，可為您zui大限度地節省資金。
產品性能：
lUSB2.0接口，USB供電。
光學分辨率可至～0.035nm（FWHM）；分辨率依賴于光柵刻線和狹縫寬度。
多種光柵選擇，可對客戶需要的波段進行增強。
擁有電子快門，防止探測器飽和。
具有復享科技EX寬譜段技術，PG4000EX譜段寬度達200-1100nm。
可選狹縫5,10,25,50,100和200nm，狹縫寬度會影響靈敏度和光學分辨率。
可選的高階濾光片用于濾除二階及三階光譜，PG4000EX采用復享科技EX可變高階濾光片。
可選探測器聚光鏡，用于增強信號收集。
海洋光學高分辨光譜儀HR4000
我們的新一代的高分辨率光譜儀，是全新的光學和電子學器件組合。適合應用于激光特征分析，氣體吸光度測量和確定原子散射線等領域。
HR4000配有全新的Toshiba3648像素CCD陣列探測器，光學分辨率可達0.2nm(FWHM)
海洋光學高分辨光譜儀HR4000主要特點
光學分辨率（FWHM可達0.02nm
板載微控器
即插即用USB接口
光學平臺
安裝和使用手冊
采樣附件
規格
光譜分辨率（FWFM）可達0.02nm
HR4000是我們新一代高分辨率的光譜儀，它采用了Toshiba的3648像元的線陣CCD，光學分辨率可達0.02nm（FWHM）。HR4000光譜范圍為200-1100nm，具體的光譜范圍和分辨率配置取決于實際光柵和狹縫的選擇。HR4000適用于激光測量、氣體吸收測量以及原子輻射線的測量等領域。
板載微控制器
HR4000的板載微控制器使得對光譜儀的控制非常方便。通過一個30針的連接器，您可以在軟件中設置所有的光譜儀操作參數：控制光源、操作進程以及從外部對象獲取信息等。配備有10個用于外部設備接口的用戶可編程I/O端口、一個模擬輸入和一個模擬輸出接口，以及一個用于觸發其它設備的脈沖發生器。
即插即用USB
HR4000通過USB2.0或RS-232串口和PC、PLC或其它嵌入式系統相連。在串口模式下，HR4000需要額外的5伏供電電源（不包含在產品中）。每臺光譜儀*的參數被編程存儲在系統的內存芯片中，可以非常方便地被光譜儀操作軟件讀取。
光學平臺
用戶通常要求光譜儀可以適合他們的特殊需要，所以HR4000光譜儀可以根據您的應用需要配置光學平臺。您可以選擇狹縫尺寸，探測器，濾光片和光柵等。
安裝和工作手冊
HR4000手冊可以提供給您對HR4000配置，校準和實驗的指導。
采樣附件
從你的HR4000光譜儀獲得更高的光譜分辨率。OceanOptics的合伙人光譜應用研究的SHA-1光譜超級適配器進一步改進了高性能的HR4000的光學分辨率。
HR4-BREAKOUT是一個被動模塊，提供HR2000+不同功能的接口。BREAKOUT盒可與多種與光譜儀的連接如：外觸發器、GPIO、光源、RS-232和模擬輸入/輸出。
HS2000高分辨光譜儀是一款針對紫外、可見光、近紅外光譜應用的高性能光纖光譜儀;高速USB2.0上位機操作，組合模塊可測184-640nm/184-840nm，分辨率優于0.1nm@200nm，體積小巧，配合采樣附件，可搭建各種模塊化光譜測試系統;常見應用包括吸光度和反射率測量，水質檢測，光源測量，熒光光譜檢測，LIBS光譜應用，火花光譜應用;
HS2000高分辨光譜儀產品特點：
1.模塊化設計,可以根據客戶需求方便組合
2.組合模塊可實現寬光譜(184-620nm/184-840nm)
3.高分辨0.1nm@200nm
4.高通量設計F數3.27
5.光纖SMA905接口，方便各種應用場合
HS2000高分辨光譜儀典型譜圖：
實測標準汞氬燈光譜
局部分辨率放大譜
iHR550高分辨光譜儀應用場景
等離子體光譜測量：LIBS、高壓電弧等等離子體光譜測量
拉曼光譜測量：材料、化學、生物、法檢、催化、礦物、考古;
熒光光譜測量：OLED、鈣鈦礦、量子點、生物熒光探針;
吸收光譜測量：白光吸收/反射;
iHR550高分辨光譜儀產品特點
優異的成像性能：采用超環面反射鏡糾正散光；通過非對稱式光路設計和專（利）的光柵在軸掃描設計減少慧差和其他相差；聚焦鏡比準直鏡更大，使得整個平場范圍無暗角（在焦平面邊緣無光通量損失）。
消除二次衍射光：經計算機模擬優化的非對稱式光路設計，能精確優化定位光學元器件的位置，從而達到消除二次衍射光的目的。
在軸掃描技術：能夠使信號光一直保持在光柵正中心的表面，最（大）提高光柵的分光效率與準確性，保證高光通量與光譜穩定性。
靈活、易于使用：光譜儀出入口的可選擇性，各種類型的光柵，全系列的附件及相關軟件，使得客戶能夠定制化iHR光譜儀去實現任何一個實驗需求。
卓（越）的穩定性：為光譜測量提供了一個長期穩定的平臺。采用高質量的材料和一體化鑄造的結構。驅動部分經過檢測和復檢以確保該系統符合我們的重復性和精度要求。
雜散光測量條件：采用HORIBAScientific全息光柵，在離514nm激光線波峰基線1nm遠處測量。
所有參數基于1200gr/mm光柵，在435nm處得出。如有更改，恕不另行通知。
典型案例
多通道等離子體火焰探測
HS4096高分辨光譜儀是一款結構小巧的微型光纖光譜儀，光譜范圍可靈活配置，具備高分辨率（可達0.07nm）、低雜散光（~0.1%）、低溫漂（波長溫漂～0.2pixel/℃）的核心優勢。配置低量化光譜暗噪聲和4096個光譜通道，適配工業現場多種測量需求，是高性價比的工業級光纖光譜儀，廣泛應用于激光測量、等離子體發射光譜測量、顏色測量、吸光度測量和拉曼測量等場景。
核心產品規格
HS4096高分辨光譜儀關鍵配置
低雜散光設計：雜散光水平～0.1%，保障光譜檢測純度；
超高分辨率：可達0.07nm，滿足高精準測量需求；
穩定性強：波長溫漂<0.2pixel/℃，減少環境溫度對檢測結果的影響；
光纖適配性好：可適配多芯密排集束光纖，光纖插拔強度一致性≤7%；
紫外響應優異：具備強紫外光譜響應能力，光譜通道數豐富（4096個）；
低噪聲表現：CCD量化背景噪聲≤20RMS（最短積分時間），檢測信號更清晰；
接口功能完備：配置USB2.0、RS232通訊接口及24PIN交互接口，內置專有DAC和ADC，可實現配套光源的使能、強度控制及功率反饋；
采集模式多樣：支持單次、連續、軟件觸發、同步外觸發、異步復位外觸發等模式。
定制說明
光譜范圍及其他參數可根據客戶實際應用場景定制；
分辨率實際值存在約120%的偏差（即實際分辨率不高于標值的120%）。
暗噪聲:積分時間10ms
暗噪聲:積分時間100s
HS4096高分辨光譜儀主要應用領域
醫療領域
用于視網膜高分辨率成像，支持醫生開展實時的光學活檢；
可及時發現眼底早期病變，適配眼科醫療和視網膜疾病早期診斷場景。
高分辨光譜儀的使用注意事項
高分辨光譜儀的“高分辨”特性意味著其光路設計極為精細，任何微小的環境波動或操作失誤都可能導致分辨率下降、波長漂移甚至器件損壞。因此，在使用過程中必須嚴格遵守以下注意事項：
1.環境條件的嚴格控制
溫度穩定性：高分辨光譜儀的光柵、透鏡及機械結構對熱脹冷縮極其敏感。溫度變化會導致光路長度改變，引起波長漂移。一般要求實驗室溫度控制在20±1℃以內，且避免溫度的劇烈波動。對于超高精度測量，建議將儀器置于恒溫恒濕箱或專用溫控室內。
濕度控制：過高的濕度會導致光學元件表面結露，滋生霉菌，腐蝕鍍膜；過低的濕度則容易產生靜電，吸附灰塵并可能損壞電子元件。相對濕度應保持在40%-60%之間。
防震與隔振：高分辨光譜儀內部的光柵刻線密度高，微小的振動都會導致譜線展寬或信噪比下降。儀器必須放置在專用的防震光學平臺上，遠離空壓機、泵類、大型風扇等振動源。在搬運或調整光路后，需靜置足夠時間讓機械應力釋放。
潔凈度要求：灰塵是光學儀器的天敵。塵埃落在狹縫、光柵或探測器上會形成散射背景，降低信噪比，甚至造成損傷。實驗室應保持無塵環境，最好達到萬級或千級潔凈度標準。
2.光源耦合與入射光管理
狹縫保護：入射狹縫和出射狹縫是光譜儀的“咽喉”，通常由硬質合金制成，但刃口極其鋒利且脆弱。嚴禁使用硬物觸碰狹縫，清潔時需使用專用的高壓氣吹或極細的無塵棉簽，動作要輕柔。
光功率限制：輸入光強不能超過探測器的線性響應范圍，更嚴禁超過其損傷閾值。特別是使用激光作為光源時，必須經過衰減處理，防止高能量密度燒毀光柵鍍膜或探測器像素。對于紫外波段，需注意光子的能量較高，長時間照射可能加速光學元件老化。
雜散光抑制：確保入射光束覆蓋狹縫且不溢出，避免雜散光直接進入光室。對于非單色光源，建議使用適當的濾光片預過濾，減少高階衍射光的干擾。
3.操作規范與軟件設置
預熱時間：開機后，光源（如氘燈、鎢燈）和探測器（如CCD、CMOS）需要充分的預熱時間以達到熱平衡和電子學穩定。通常建議預熱30分鐘以上再進行高精度測量。
掃描速度設置：在掃描型光譜儀中，掃描速度與積分時間需匹配。速度過快會導致信號采集不足，波形失真；速度過慢則增加暗電流噪聲。應根據信號強度優化參數。
波長校準：定期使用標準汞氬燈或激光波長標準源進行波長校準。特別是在環境溫度變化較大或儀器移動后，必須重新校準，以確保數據的準確性。
日常維護是確保儀器長期穩定運行的基石。維護工作應制定詳細的計劃和記錄。
1.清潔工作
外部清潔：定期使用無塵布或微濕的軟布擦拭儀器外殼。顯示屏可用專用的屏幕清潔劑和無塵布輕輕擦拭。
光學元件清潔：這是最危險也最需要技巧的步驟。
原則：能不擦就不擦，能吹就不擦。
方法：首先使用洗耳球或專用吹氣球吹掉表面的浮塵。如果吹不掉，使用專用的光學擦鏡紙或無紡布，蘸取少量無水乙醇或專用光學清潔劑，從中心向邊緣螺旋式輕輕擦拭。切勿來回反復擦，也不要使用干紙巾或粗糙的布料。
樣品室：定期打開樣品室，用吸塵器或軟毛刷清理掉落的樣品殘渣。
2.消耗品更換
光源（燈泡）：無論是氙燈、鹵素燈還是氘燈，都有額定的使用壽命（通常約為2000-4000小時）。當光源能量明顯下降或達到使用壽命時，應及時更換。建議記錄光源使用時長，并在廠家指導下更換，因為更換后可能需要進行光路微調。
干燥劑：如果儀器內部或存儲柜中配有干燥劑，應定期檢查顏色變化，及時更換或烘干。
3.校準工作
校準是維護中最核心的環節，它決定了數據的有效性。
波長校準：由于溫度變化、機械震動等因素，光譜儀的波長可能會出現漂移。應定期（如每半年或一年）使用標準光源（如汞氬燈）進行波長校準，修正像素點與波長的對應關系。
強度（輻射）校準：對于需要進行絕對輻射測量的應用，需要使用標準鹵素燈進行輻射校準，以扣除系統（光源、光纖、光柵、探測器）的光譜響應特性。
暗電流校正：在每次采集樣品前，應采集暗背景光譜（遮擋光路或關閉快門），以扣除探測器的暗噪聲。對于對溫度敏感的探測器，如果環境溫度變化較大，需要重新采集暗背景。
4.防塵與防潮
防塵罩：儀器不使用時，必須蓋上防塵罩。對于光纖接口和狹縫入口，應安裝防塵帽。
長期存放：如果實驗室濕度較大，可以考慮在儀器附近放置除濕機，或在機柜內放置防潮珠。
第五章長期未用后的重啟與呵護
如果儀器因假期或其他原因閑置超過1個月，再次啟用時不能直接開機就用，需要進行特別的“喚醒”步驟。
1.檢查與清潔
外觀檢查：檢查是否有蟲蛀、霉斑或銹跡。檢查防塵蓋是否完好。
清潔：使用吹氣球清理進樣口、狹縫和散熱孔處的積灰。
2.電子器件激活
電池：如果儀器內部有電池（如某些便攜式設備），需檢查是否有鼓包或漏液?？梢韵葘㈦姵厝〕觯M行幾次充放電循環激活，再裝回儀器。
通電：接通電源后，不要急于開機。讓外部電源適配器先通電，給電路板一個緩沖時間。開機后，讓儀器靜置預熱更長時間（如1小時），使內部電子元件和光學元件充分適應環境溫度。
3.深度驗證
空白測試：先采集空白背景（如空氣、空白溶劑），觀察基線是否平穩，是否有異常噪聲。
標準品驗證：使用標準樣品（如已知波長的特征峰材料）進行測試，驗證波長準確性和信噪比是否達標。如果發現偏差，必須執行全面的校準程序。
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