SM-100 原裝現(xiàn)貨Otsuka大塚電子智能薄膜厚度計
| 參考價 | ￥ 50000 |
| 訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 玉崎科學儀器（深圳）有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型號 SM-100
- 產(chǎn)地 日本
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2026/3/20 17:13:52
- 訪問次數(shù) 29
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,能源,綜合 |
原裝現(xiàn)貨Otsuka大塚電子智能薄膜厚度計
原裝現(xiàn)貨Otsuka大塚電子智能薄膜厚度計
SM-100系列智能薄膜厚度計
高精度便攜式薄膜測厚儀。您在測量薄膜厚度時是否遇到過以下問題 ：
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產(chǎn)品信息
規(guī)格
測量目標
選項
產(chǎn)品信息
“便攜式”——重量僅1.1公斤，方便攜帶。
“高精度測量 & 簡易測量”：無需校準曲線即可測量至 0.1 μm。
“支持多層薄膜”：可測量最多 3 層的多層薄膜。
“非破壞性、非接觸式測量”：測量不會對樣品造成損壞。
“可測量各種樣品”：無論基材（玻璃、塑料等）如何，均可進行測量。
① 小型光譜儀
② 小型白色光源
③ 設備內(nèi)置計算機：
傳統(tǒng)上，分析是在個人電腦上完成的，但是……
分析
展示
手術(shù)
現(xiàn)在可以通過觸摸面板完成這項操作！
④ 電池供電
⑤ 參考鏡
⑥ 可更換探頭
優(yōu)點
現(xiàn)在你可以把它帶到以前去不了的地方了！
原因
光譜儀小型化、電池爭議等。
場景一：商務旅行目的地
場景二：生產(chǎn)線
場景3：無法移動的物體
優(yōu)點
無需任何專業(yè)知識或操作培訓！
原因①無需組裝；開箱即可使用。
設置狀態(tài)原因 ②只需將探針接觸樣品即可進行測量。
簡單的原因③它可以通過觸摸面板進行直觀操作。
我需要自行配置的設置很少
！
優(yōu)點
測量精度可達0.1微米。
原因
它采用光譜干涉測量法。
原則測量基材上涂覆的薄膜
從上方入射的光線
會在薄膜表面反射，
穿過薄膜的光線會在襯底或薄膜界面處反射。
測量由光程差引起的相位偏移所造成的
光學干涉現(xiàn)象。
薄膜厚度可根據(jù)所獲得的反射光譜和折射率確定。
優(yōu)點
① 可測量大尺寸樣品
② 可進行無損測量
③ 可測量各種形狀的樣品
原因
因為這是一種需要使用探針進行測量的方法。
即使它太大，無法在普通臺式設備上顯示，也沒關(guān)系。
沒必要再提這件事了。
無需用力捏或按。
優(yōu)點
① 可測量各種形狀的樣品
② 可測量大型樣品
③ 可進行無損測量
原因
可以根據(jù)樣品更換探針。
探頭①：標準探頭
用于放置在平面上的樣品。
（例如）電影，簡單形狀
探針②：筆式探針選項
適用于空間狹窄或形狀不規(guī)則的樣品。
（例如）電影，簡單形狀
探針③：非接觸式平臺選項
用于存放您不想直接觸摸的樣品。
（例如）濕膜、半導體晶片
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