產品概述：
吉時利 4201-SMU 是泰克科技為 Keithley 4200A - SCS 參數分析儀專門設計的源測量單元模塊。它主要用于在存在高負載電容的復雜測試環境下進行精確的低電流測量，能夠有效解決長電纜、開關矩陣、通過柵極接觸卡盤及其他夾具等測試設置所帶來的測量穩定性問題，可廣泛應用于 LCD 顯示器制造、納米 FET 器件測試等諸多領域。
- 通用測試儀器
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歐姆表 干燥箱 可編程光波處理器 光譜儀 脈沖半導體激光管測試系統 X射線檢測 激光開封系統 真有效值電子記錄萬用表 測量頭 調節器 測試電纜 測試儀 光纖認證儀 測試平臺 測試頭 采樣示波器模塊 穩定光源 背反射器 瞬斷器 檢測器 激光鎖 損耗計 反射計 可調諧濾波器 電氣遠程采樣頭模塊 階段參考模塊 光采樣模塊 寬帶光源 精密反射儀 測試夾具 參考發射模塊 控制器 混合信號 函數發生器 三維X射線顯微鏡 分光光度計 光學氣體熱像儀 多功能酶標儀 萬用表 便攜式分析儀 矢量測試儀 波形發生器 微波網絡分析儀 偏置網絡 矢量網絡分析儀 可調諧激光源 網絡測試儀 噪聲系數分析儀 光時域反射計 阻抗分析儀 偏振光源 控制夾具 脈沖中等電流源表模塊 光波測量系統 光通訊測試儀器 數字電視測試儀器 信號分析儀 信號發生器
- KEYSIGHT/美國是德
- Agilent/安捷倫
- 其他品牌
- TeKtronix/美國泰克
- R&S/羅德與施瓦茨
- HP/惠普
- YOKOGAWA/橫河電機
- FLUKE/福祿克
- EXFO/加拿大
- Keithley/美國吉時利
- Santec/日本
- Anritsu/安立
- ESPEC/愛斯佩克
- ADCMT/愛德萬
- SRS/斯坦福
- Ceyear/思儀
- LeCroy/美國力科
- SIGLENT/鼎陽
- HIOKI/日本日置
- Bristol/美國
- Chroma/致茂
- Newport/美國
- VIAVI
- FUJIKURA/藤倉
- 古河蓄電池
- LitePoint/萊特波特
- SUMITOMO/住友
- ITECH/艾德克斯
- RIGOL/普源
- GWINSTEK/中國臺灣固緯
- OceanOptics/海洋光學
- Aeroflex
- TESEQ/特測
- KIKUSUI/日本菊水
- Thorlabs
- General Photonics
- ThermoTST
- inTEST
- SPIRENT/思博倫
- Hitachi/日立
- AMETEK/阿美特克
- YINUO/一諾儀器
- OLYMPUS/奧林巴斯
- SHIMADZU/島津
- AP/美國Audio Precision
- 同惠電子
- KEYENCE/基恩士
- NOISEKEN
- MINOLTA/日本柯尼卡美能達
- HAEFELY/哈弗萊
- Mettler Toledo/梅特勒托利多
- Ophir
- BCHP/中惠普
- EEC/中國臺灣華儀
- HAMEG/德國惠美
- Bruker/布魯克
- Nikon/日本尼康
- TDK-LAMBDA/日本
- 常州安柏
- DEIF/丹麥
- Quantum Opus
- 牛頓光學
- NF/日本
- 穩科
- EYE/巖崎
- 艾諾儀器
- Hantek/漢泰
- SENKO/韓國?？?/a>
- 知用電子
- Meacon/美控
- Seaward/英國
- MATRIX
- ACCURATE THERMAL SYSTEMS/美國
- Alnair Labs
- TREK/美國
- SICK/德國西克
- Temposonics
- 上海拓赫
- PRECISE/普賽斯
- DAHUA/大華蓄電池
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