概述　　

　　X熒光光譜儀是由本公司集數十年X熒光分析儀的研究經驗，在公司原有的原系列X熒光鈣鐵分析儀、測硫儀、鋁硅分析儀、多元素分析儀等的基礎上研制推出的一種達到水平的分析儀器。它采用波長色散X射線熒光分析技術（WDXRF），多道同時測量從Na到U的任意十種元素，對大多數元素分析的含量可低至ppm高至*。具有分析速度快、精度高、人為誤差小、操作人員勞動強度低、只需一次性投資、無污染等特點，故廣泛應用于建材、冶金、石油、化工、地質、礦山等各行各業。

　　X熒光光譜儀關鍵部件采用進口產品，如X射線管采用Varian公司生產的400W薄鈹端窗X射線管，Na、Mg等輕元素道探測器窗采用Moxtek公司生產的0.6μm超薄聚酯窗，恒溫室溫度控制精度小于0.1℃，流氣系統采用高精度流氣密度穩定裝置，壓力穩定度小于3Pa，由此使本光譜儀具有的精度和準確度，達到水平。本光譜儀屏蔽防護的良好設計保證無任何射線泄漏，滿足輻射豁免要求。

　　X熒光光譜儀應用于我國水泥行業尤其顯示出其*性。由于該款儀器是為水泥行業專門開發的，*標準GB/T176-2008《水泥化學分析方法》和建材行業推薦標準JC/T1085-2008《水泥用X射線熒光分析儀》，其性能對水泥行業來說比進口同類產品更好，而價格僅為進口同類產品的幾分之一，具有*的價格性能比。另外國內企業售后服務的方便程度是國外企業所無法相比的。

主要技術指標

1.分析元素或其氧化物種類:從Na到U的任意十種元素及其氧化物，以水泥為例（下同）具體是：Na2O，MgO，

　Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等。

2.分析范圍寬度：“控制目標值±2.5%”的范圍內，由所標定的曲線決定。

3.系統分析時間：典型值：180秒。

4.精密度：譜線強度的變異系數：εSiO2＜0.40%，εSO3＜2.0%，εCaO＜0.15%。

5.穩定性：譜線強度的極差：RSiO2＜1.5%，RSO3＜5.0%，RCaO＜0.5%。

6.線性：含量的誤差：ENa2O＜0.035%，EMgO＜0.10%，EAl2O3＜0.14%，

　　　　　　　　　　ESiO2＜0.14%，ESO3＜0.10%，ETiO2＜0.035%，

　　　　　　　　　　EK2O＜0.07%，ECaO＜0.18%，EFe2O3＜0.10%。

7.X射線管功率：400W（zui高50KV，zui大8mA）。

8.恒溫室溫度：36℃±0.1℃。

9.使用條件：環境溫度：15~+28℃，相對濕度：≤75%（25℃），電源：220V±20V，50Hz。

10.整機功耗：<50W。

11.尺寸及重量：長×寬×高：790mm×760mm×1200mm，重量：195kg。

水泥國家標準樣品測量結果