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    目錄:上海爾迪儀器科技有限公司>>bruker>>x射線熒光光譜儀>> Bruker M4 TORNADO PLUS XRF成像光譜儀

    Bruker M4 TORNADO PLUS XRF成像光譜儀

    • Bruker M4 TORNADO PLUS XRF成像光譜儀
    參考價 10000000
    訂貨量 ≥1
    具體成交價以合同協(xié)議為準
    10000000
    ≥1
    具體成交價以合同協(xié)議為準
    • 品牌 Bruker/布魯克
    • 型號
    • 廠商性質(zhì) 代理商
    • 所在地 上海市
    屬性

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    >

    更新時間:2026-02-06 14:51:44瀏覽次數(shù):1097評價

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    儀器種類 臺式/落地式 應用領域 醫(yī)療衛(wèi)生,能源,綜合
    M4 TORNADO PLUS能夠檢測、分析從碳(C)到镅(Am)全元素的微區(qū)XRF成像光譜儀。作為久經(jīng)驗證M4 TORNADO微區(qū)XRF分析儀系列的成員,M4 TORNADO PLUS還具備多項創(chuàng)新功能,例如:創(chuàng)新的孔徑管理系統(tǒng)、超高通量脈沖處理器以及靈活的快速更換樣品臺。
    Bruker M4 TORNADO PLUS
    用于超輕元素分析的微區(qū)XRF成像光譜儀
     
    更多產(chǎn)品資料,聯(lián)系上海爾迪儀器科技有限公司
     

    Bruker M4 TORNADO PLUS XRF成像光譜儀

     
    M4 TORNADO PLUS能夠檢測、分析從碳(C)到镅(Am)全元素的微區(qū)XRF成像光譜儀。作為久經(jīng)驗證的M4 TORNADO微區(qū)XRF分析儀系列的新成員,M4 TORNADO PLUS還具備多項創(chuàng)新功能,例如:創(chuàng)新的孔徑管理系統(tǒng)、超高通量脈沖處理器以及靈活的快速更換樣品臺。
     

    產(chǎn)品特點

     
    ·兩個大面積硅漂移探測器(SDD),配備超輕元素窗口
    ·高性能X射線管,增強低能量激發(fā)
    ·超高通量脈沖處理器
    ·孔徑管理系統(tǒng)(AMS)
    ·快速更換樣品臺(可選多種樣品支架)
    ·第二X射線管,配備自動四位置準直器切換裝置(選配)
    ·可編程氦氣吹掃系統(tǒng)(選配)

     

    產(chǎn)品優(yōu)勢

    ·輕元素檢測下限至碳(C)
    ·提升輕元素檢測效率
    ·縮短采集時間,提升分析效率
    ·高景深設計,確保表面形貌復雜樣品成像時更多特征與細節(jié)清晰聚焦
    ·縮短樣品更換與系統(tǒng)準備時間
    ·高能譜線分析靈活性更高
    ·常壓環(huán)境下實現(xiàn)輕元素分析性能
     
     
    產(chǎn)品規(guī)格
     
    樣品類型 
    固體、顆粒、液體
    樣品室尺寸
    W x D x H: 600 mm x 350 mm x 260 mm
    樣品臺
    W x D: 330 mm x 170 mm, 最大載重: 7 kg
    測量氣體
    空氣環(huán)境或可調(diào)真空(配備無油泵,約3分鐘可達2毫巴),可選氦氣吹掃系統(tǒng)
    樣品行程
    最大行程: W x D x H: 200 mm x 160 mm x 120 mm
    掃描行程: W x D: 190 mm x 160 mm
    移動速度:采用TurboSpeed樣品臺時最高可達100 mm/s
    樣品視圖
    雙路實時俯視成像系統(tǒng)(不同放大倍率)實現(xiàn)樣品概覽與精確定位,側(cè)向魚眼鏡頭提供樣品室全景監(jiān)控
    激發(fā)
    第一X射線管:高亮度、輕元素微焦斑X射線管,配備多導毛細管X射線光學系統(tǒng)和孔徑管理系統(tǒng)(AMS)
    靶材:銠(Rh),可選銀(Ag)
    管參數(shù):50 kV,30 W
    光斑尺寸:使用多導毛細管透鏡時,≤20μm (Mo Kα @17.5 keV)
    濾光片:8種激發(fā)濾光片
    可選第二X射線管:細聚焦X射線管,配備四位置準直器切換裝置,準直器尺寸從0.5 mm到4.5 mm
    靶材:鎢(W),可選銠(Rh)、鉬(Mo)、銅(Cu)、鉻(Cr)
    管參數(shù):50 kV,40 W
    濾光片:8種激發(fā)濾光片
    探測器
    XFlash®超輕元素硅漂移探測器,可檢測從碳(C)到镅(Am)的元素,支持雙探測器 。
    敏感區(qū)域面積:2 x 60 mm2;
    能量分辨率:< 145 eV(在輸入計數(shù)率為 600,000 cps 時);
    吞吐量:最高可達 550,000 cps 輸出計數(shù)率
    儀器控制
    優(yōu)良的PC,Windows®操作系統(tǒng)
    X射線管參數(shù)、濾光片、光學顯微鏡、樣品照明及樣品定位全面控制
    光譜評估
    峰識別、偽影與背景校正、峰面積計算、FP定量分析,使用 XMethod 進行基于標樣和無標樣的校準定量分析
    分布分析
    “On the fy" 測量,HyperMap功能
    結(jié)果呈現(xiàn)
    定量分析結(jié)果,統(tǒng)計評估,元素分布(線掃描,面掃描)
    電源要求
    100 - 240 V (1P), 50/60 Hz
    尺寸和重量
    W x D x H: 815 mm x 680 mm x 580 mm, 130 kg*
    質(zhì)量與安全
    DIN EN ISO 9001:2015, CE 認證,UKCA 認證;全面輻射防護系統(tǒng);輻射量 < 1 μSv/h


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