無損XRF電鍍層厚度測試儀 返回列表頁

無損XRF電鍍層厚度測試儀滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

型號：Thick 800A無損XRF電鍍層厚度測試儀

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度般在50μm以內（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應范圍為15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

開放式樣品腔。

精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護傳感器

計算機及噴墨打印機無損XRF電鍍層厚度測試儀

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

1、滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

2、φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

1、環境溫度要求：15℃-30℃

2、環境相對濕度：<70%

3、工作電源：交流220±5V

4、周圍不能有強電磁干擾。

1、硬件：主機壹臺，含下列主要部件：

(1) X光管 (2) 半導體探測器

(3) 放大電路 (4) 高精度樣品移動平臺

(5) 高清晰攝像頭 (6) 高壓系統

(7) 上照、開放式樣品腔 (8）雙激光定位

(9) 玻璃屏蔽罩

2、軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0

3、計算機、打印機各臺

計算機（品牌，P4，液晶顯示屏）、打印機（佳能，彩色噴墨打印機）

4、資料：使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各份。

5、標準附件

準直孔：0.1X1.0mm（已內置于儀器中）