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| 應用領域 | 綜合 |
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TEC2000淺制冷光譜儀
TEC2000淺制冷光譜儀
TEC2000 是一款背照式制冷型微型光纖光譜儀，結構設計小巧，光譜范圍可靈活配置。具備高分辨率（可達 0.07nm）、低雜散光（~0.5%）的核心優勢，同時擁有低暗噪聲、高信噪比特性，光譜響應穩定性與重現性良好，能滿足工業現場長時間檢測的可靠性要求，廣泛應用于激光測量、等離子體發射光譜測量、顏色測量、吸光度測量和拉曼測量等場景。
核心產品規格
關鍵配置
l 超高分辨率：可達 0.07nm，滿足高精準檢測需求；
l 靈活制冷：制冷溫度可選擇 10℃或 - 5℃，兼顧低噪聲與穩定性；
l 連接可靠：光纖插拔強度一致性≤7%，保障檢測重復性；
l 穩定耐用：適配工業現場及科研場景的長時間連續檢測需求；
l 低噪表現：CCD 量化背景噪聲≤10 RMS（最小積分時間），信號更清晰；
l 接口完備：配置 USB、串口通訊接口及 24PIN 交互接口，內置專有 DAC 和 ADC，可實現配套光源的使能、強度控制及功率反饋；
l 采集多樣：支持單次、連續、軟件觸發、同步外觸發、異步復位外觸發等多種采集模式。
詳細參數表
參數類別 | 具體指標 |
產品型號 | TEC2000 |
光纖接口 | Key-SMA905 |
像元通道數（CCD 像素） | 2048×1 像素 |
雜散光 | ~0.5% |
光纖插拔一致性 | ≤7% |
AD 采樣 | 16 bit |
數據接口 | USB2.0、RS232 |
擴展功能接口 | 24 PIN |
采集模式 | 單次、連續、軟件觸發、同步外觸發、異步復位外觸發 |
檢測器積分時間 | 8 ms-300s |
CCD 讀出噪聲（最小積分時間，均方根） | ≤10 |
動態范圍（最小積分時間，(飽和值 - 暗噪基線)/CCD 讀出噪聲標準差） | 8000:1 |
滿信號動態范圍 | 15000:1 |
信噪比 | 800:1 |
響應線性度 | ≥98% |
物理參數 |
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重量 | 1.12 kg |
尺寸 | 182×109×56 mm |
工作溫度 | 0~40℃ |
工作濕度 | 20%-85% |
規格選型表
規格型號 | 像素數 | 制冷溫度 | 光譜范圍（nm） | 光譜分辨率（nm） | ||
pixels | pixels | 起始波長 | 截止波長 | 10 μm | 25 μm | |
TEC2000-535-630 | 2048 | 10 | 535 | 630 | - | 0.30 |
TEC2000-795-1040 | 2048 | 10 | 795 | 1040 | - | 0.45 |
TEC2000-200-1000 | 2048 | 10 | 200 | 1000 | - | 2.50 |
定制說明
l 光譜范圍及其他參數可根據客戶實際應用場景定制；
l 分辨率實際值存在約 120% 的偏差（即實際分辨率不高于標值的 120%）。
典型光譜
（1）10 ms積分時間下的典型暗光譜
（2）暗噪聲VS積分時間
（3）10 ms積分時間信噪比（有源）
（4）動態范圍
（5）光譜譜線燈光譜（200-1000 nm）
（6）氘鎢燈光譜（200-1000 nm）
主要應用領域
激光器測量領域
l 基于光譜分析原理，實時監測激光器的波長、譜線寬度、頻率穩定性和光譜輪廓等關鍵參數，保障激光器在各場景中的精確性與穩定性；
l 廣泛適用于精密制造、通信、科學研究及醫療設備等對激光器性能要求嚴苛的領域。
激光器中心波長測量譜圖
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