就等你啦！“半導體晶圓表面及內部檢測線上會議”報名開啟

　　半導體晶圓表面及內部缺陷直接影響芯片性能與良率，是集成電路制造過程中的關鍵質控環節。隨著制程工藝不斷逼近物理極限，晶圓檢測在精度、效率與標準化方面面臨更高挑戰，也對行業技術迭代與標準合規提出了迫切需求。
 

　　2025年10月21日14:00，化工儀器網特聯合徠卡顯微系統(上海)貿易有限公司舉辦“半導體晶圓表面及內部檢測”線上會議，邀請半導體制造、檢測技術與設備開發領域的科研人員、工程師與技術專家參與和深入交流，旨在為行業提供技術分享與實用解決方案交流平臺，推動半導體晶圓檢測水平提升與產業協同創新。
 

　　會議日程
 

具體以現場為準
 

　　講師介紹(排名不分先后)
 

　　周維虎，中國科學院微電子研究所二級研究員
 

　　擔任國家科技獎評審專家、中國機械工業科學技術獎評審專家、國家02重大專項光學曝光系統總體組專家、科技部十三五先進制造領域重大科技任務實施方案編寫組專家/總體組專家、科技部十三五科學儀器設備開發重大科技任務實施方案編寫組專家/總體組成員、國家02重大專項項目驗收專家、863項目驗收專家、973項目評審專家、科技部科學儀器重大專項評審專家(技術專家、監理、中期評估專家組組長)、科技部國際合作評審專家、自然基金評審專家(重大科學儀器專項、優青、面上、青年基金)、中國博士后科學基金評審專家、省市級自然基金評審專家(北京市、上海市、天津市、江蘇省、浙江省自然基金)、省市級科技計劃評審專家(北京市、上海市、江蘇省、蘇州市、常熟市、張家港市等)； 全國 光電測量標準化技術委員會秘書長、中國計量測試學會計量儀器專業委員會副主任委員、中國儀器儀表學會光譜儀器專業委員會副主任委員、全國幾何量長度計量技術委員會特聘委員、中國儀器儀表學會精密機械分會理事會理事、中國儀器儀表學會光機電技術與系統集成分會委員、中國儀器儀表行業協會專家委員、全國光輻射安全和激光設備標準化技術委員會委員、全國產品尺寸和幾何技術規范標準化技術委員會委員、中國計量測試學會微納測量技術委員會委員、中科院計算光學重點實驗室學術委員會委員、北京市光電信息與儀器工程研究中心學術委員會委員、中關村光電產業協會理事/專家委員、中國光學工程學會委員、中國光學學會光電技術專業委員會委員;目前主要研究方向為集成電路超高精度光學檢測、激光跟蹤多自由度測量、飛秒激光頻率梳高性能測量、視覺三維幾何量測量及缺陷檢測等。先后參與國家02重大專項、國家自然基金委重大儀器專項發展戰略、科技部科學儀器重大科技任務“十三五”實施方案、科技部先進制造重大科技任務“十三五”實施方案、中科院有關科技計劃等論證與編寫工作。
 

　　倪嘯，徠卡顯微系統（上海）貿易有限公司工業部產品經理
 

　　畢業于上海理工大學機械學院，在工業領域深耕十年以上，擁有全類型檢測儀器設備經驗例如：三坐標，工業CT，激光雷達和光學掃描等。
 

　　關于徠卡
 

　　徠卡顯微系統(Leica Microsystems)是德國著名的光學制造企業。具有175年顯微鏡制造歷史，現主要生產顯微鏡, 用戶遍布世界各地。早期的“Leitz"顯微鏡和照相機深受用戶愛戴, 到1990年徠卡全部產品統一改為“Leica"商標。徠卡公司是集顯微鏡、圖像采集產品、圖像分析軟件三位一體的顯微鏡生產企業。
 

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