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ES62X-LVS Low Voltage Surge System
| 應用領域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
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ES62X-LVS 型低壓浪涌系統能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標準的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級和封裝級器件的浪涌敏感度測試。系統具有瞬態波形測量和靜態IV曲線測試功能，便于確定被測器件的ESD損傷閾值。
脈沖發生器的設計和脈沖輸出方法保證了被測器件端（而非發生器輸出端）的波形性能。系統能夠獲取浪涌脈沖注入時的瞬態電流和電壓波形，用于分析包括ESD保護器件開啟電壓等級在內的被測器件ESD特性。通過對比脈沖注入時的電壓波形變化，還能夠判定故障等級。
1V至500V電壓范圍內波形干凈，線性度高
全隔離的放電電路
軟件控制，自動化測量
損傷閾值自動監測（含DC漏電測量及靜態IV掃描）
基于IEC61000-4-5 8 /20μs標準，進行電源、驅動PCB、通信系統、LCD顯示屏等模塊的浪涌抗擾度測試
進行晶圓、封裝和PCB級的浪涌脈沖敏感度測試
10 /1000μs波形的晶圓、封裝、PCB和系統級浪涌敏感度和抗擾度測試
| 參數 | LVS-500-8/20 選項 | LVS-500-10/1000 選項 | 單位 |
| 輸出電壓（開路負載） | 1 – 500 | 1 – 500 | V |
| 輸出電流（短路負載） | 0.5 – 250 | 0.12 – 55 | A |
| 輸出精度 | ± 5 % | ± 5 % | % |
| 輸出電阻 | 2 ± 10% | 9 ± 10% | ? |
| 短路電流波前時間 | 8 ± 20 % | 10 – 40 % | µs |
| 短路電流半峰值時間 | 20 ± 20 % | 1000 +20 % | µs |
| 開路電壓波前時間 | 1.2 ± 30 % | 10 – 40 % | µs |
| 開路電壓半峰值時間 | 50 ± 20 % | 1000 +50 % | µs |
| 尺寸 | 347 X 300 X 145 | mm | |
| 重量 | 12 | kg | |
| 電壓探頭 | 無源電壓探頭, 101:1 | ||
| 電流探頭 | 無源電流探頭, 0.1 V/A | ||
| 編號 | 型號 | 描述 |
| 低壓浪涌IV曲線系統 | ||
| 1.0 | ES62X-LVS | ES62X-LVS 低壓浪涌系統主機 |
| 1.1 | LVS-500-8/20 | 8/20 低壓浪涌模塊, 最大電壓500V |
| 1.2 | LVS-500-10/1000 | 10/1000 低壓浪涌模塊, 最大電壓 500V |
| 其他選項 | ||
| 2.1 | KSMU2400 | SMU, 200V, 1A, 20W, 單通道 (被測器件DC自動失效檢測)) |
| 2.2 | ES62X-CMPS | 簡易手動探針臺 |
| 2.3 | ES62X-XYZM-TIM | XYZ 微動探針座, XYZ 行程500 mils，步進0.01mm |
| 2.4 | ES62X-XYZM-PAA | PCB 電壓測量探針臂組件 |
| 2.5 | ES62X-XYZM-GAA | 接地探針臂組件 |
| 2.6 | ES62X-XYZM-PP048 | 048 彈簧探針 |
| 2.7 | ES62X-XYZM-PP075 | 075 彈簧探針 |
| 2.8 | ES62X-XYZM-TN1 | 鎢鋼針 – 針尖尺寸5 mils ES62X-LVS低壓浪涌系統 |
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