概述：i-CTS?速線纜測試系統是針對?速線纜組件/連接器(PCIe/IEEE802.3/HDMI/SAS/USB等)的信號完整性測試，是我司?主開發的?套專?...

VNA-P?量?絡分析儀頻率范圍為100KHz~67GHz，可覆蓋C/X/Ku/K/Ka/U波段微波產品的測試需求。應?于微波通信、衛星通信、航天軍?等領域的研...

BT5210是一款高性能·，簡單易用的八通道低成本8×30Gb/s比特誤碼率測試儀，可用于100G/200G TOSA/ROSA器件的研發和...

MDTR-9068A 系列高集成度光模塊測試一體機產品用途：◆，25G, 100G, 400G光電模塊的靈敏度的測試，驗證與分析;◆，大密度光模塊測試用途，適合...

BT5210是一款高性能·，簡單易用的八通道低成本8×30Gb/s比特誤碼率測試儀，可用于100G/200G TOSA/ROSA器件的研發和生產測試以及現場安裝...

4x25G EML/DML TOSA器件驗證測試系統的調試、驗證、測試與分析： 根據用戶的光器件定制化設計基板，實現高性能光眼圖輸出（高Margin，低抖動）提...

簡述：AEMS 是一套全面升級的自動化訊號完整性量測系統，專為 PCIe 和 USB4/TBT 設計。挑戰議題： 訊號品質測試所遇見的問題：AI與高速運算時代來...

電氣訊號自動化測試系統是一套全面升級的自動化訊號完整性量測系統，專為 PCIe 和 USB4/TBT 設計。挑戰議題： 訊號品質測試所遇見的問題：AI與高速運算...

ES660 靜電放電和閂鎖測試系統是一款先進的多針自動測試設備，旨在滿足現代半導體測試的嚴格要求。這款多功能設備旨在無縫支持人體模型 (HBM)、機器模型 (M...

SmartScan 350-EMC在同一硬件和軟件平臺上集成多種掃描技術：EMI電磁干擾、Field calculation電磁場轉換、(PMS)相位測量、(N...

ES640充電器件模型（CDM）測試系統，充電器件模型（CDM）靜電放電是微電子電路故障的常見原因。較低電壓下的C??DM放電會嚴重損壞或損毀靈敏設備。當帶靜電...

ES612A ESD測試儀(HBM、HMM、MM)是一款2管腳ESD測試儀，為晶圓、封裝、PCB和系統級ESD測試而設計。該測試儀的波形可以符合HBM、HMM和...

ES622系列TLP脈沖IV曲線系統是一種IV曲線表征系統，TLP符合ANSI/ESD STM 5.5.1標準，旨在高功率時域中模擬ESD事件（TLP/VF-T...

TLP傳輸線脈沖測試系統是一款便攜式脈沖IV-曲線特性表征系統，用于模擬靜電放電脈沖事件，例如TLP，vf-TLP，HMM，HBM，EFT和低壓浪涌。系統會檢測...

FS-Pro 半導體參數測試系統是一款功能全面、配置靈活的半導體器件電學特性分析設備，在一個系統中實現了電流電壓 (IV) 測試、電容電壓 (CV) 測試、脈沖...

ES622 Series TLP Pulsed IV-Curve System is an advanced IV-curve characterization...

ES640 Charged Device Model (CDM) Test SystemCharged Device Model (CDM) electrost...

ES612A ESD TESTER (HBM, HMM, MM) is a 2-Pin tester designed for the evaluation o...

A4001 ESD電流靶(DC-4GHz, 30kV)是用于ESD模擬器校準的寬帶ESD目標。2歐姆阻抗的A4001 ESD靶符合最新的IEC 61000-4-...

ESD抗擾度掃描測試系統SmartScan-350/550 ESD掃描測試系統是一款專門設計的靜電敏感度掃描系統。來自（TLP）脈沖源的寬帶脈沖被傳送到電場或磁...