otsuka大塚電子 高速減速測量裝置 RE-200RE-200是什么？RE-200 將由光子晶體元件（偏振元件）和 CCD 相機組成的偏振測量模塊與透射式偏振...

otsuka大塚電子 LE -5400 高速光譜分析儀該設備可通過與生產線控制信號同步，高速在線評估LED的光學特性。LE-5400提供質量控制所需的光學特性信...

otsuka大塚電子 QE-2100 量子效率測量器 可即時測量絕對量子效率（絕對量子產率）。兼容粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品。低雜散光多通道光譜檢測器顯...

otsuka大塚電子 IL100 光譜輻照度測量器IL100光譜輻照度測量系統用于評估光源的輻照度。它通過光譜輻照度測量實現高精度輻照度測量，測量波長范圍寬廣，...

otsuka大塚電子 FE-5000 多功能光譜橢偏儀除了能夠進行高精度薄膜分析的光譜橢偏儀之外，該系統還配備了自動可變測量角度機構，使其適用于所有類型的薄膜。...

otsuka大塚電子 RETS-100nx 延遲測量裝置這款延遲測量裝置兼容所有類型的薄膜，包括OLED偏光片、層壓相位差膜以及帶有IPS LCD相位差膜的偏光...

otsuka大塚電子 OPTM-A3 顯微薄膜厚度計OP?（Optimum）是一款利用顯微光譜技術測量微觀區域絕對反射率的儀器，能夠高精度地分析薄膜厚度和光學常...

otsuka大塚電子 OPTM-A2 顯微薄膜厚度計OP?（Optimum）是一款利用顯微光譜技術測量微觀區域絕對反射率的儀器，能夠高精度地分析薄膜厚度和光學常...

otsuka大塚電子 OPTM-A1 顯微薄膜厚度計OP?（Optimum）是一款利用顯微光譜技術測量微觀區域絕對反射率的儀器，能夠高精度地分析薄膜厚度和光學常...

otsuka大塚電子 MINUK 3D 光波場三維顯微鏡特征02可采集1400微米深度范圍內的所有信息，并可沿任意高度進行切片。單次測量即可獲取相當于數千張圖像...

otsuka大塚電子 GP-2000 光譜光分布器支持有機發光二極管和大型顯示器的光分布測量通過自動控制雙軸測角儀，可以測量每個角度的光譜分布，并利用球面系數法...

otsuka大塚電子 GP-1100 光譜光分布設備 這是一個用于測量照明燈具光分布特性的設備。?采用自主研發的光譜儀，可實現高精度測量！?可同時進行顏色測量和...

otsuka大塚電子 光譜光分布測量器 GP-500這是一個用于測量照明燈具光分布特性的設備。?采用自主研發的光譜儀，可實現高精度測量！?可同時進行顏色測量和光...

otsuka大塚電子 SM-100S 智能涂層測厚儀　高精度便攜式薄膜測厚儀“我想測的時候不能立即測量"、 您在測量薄膜厚度時是否遇到過這些問題？這款智能薄膜測...

otsuka大塚電子 SM-100P 智能涂層測厚儀　測量目標　?光學薄膜　?涂層薄膜 （防反射薄膜、粘合層等）　?半導體（氧化膜、光刻膠膜等）　?各種薄膜 （...

otsuka大塚電子 FE-300F 薄膜厚度監測儀這是一款小巧、低成本的薄膜厚度計，采用光學干涉法測量薄膜厚度，精度高，操作簡便。一體式外殼將所有必要的組件集...

otsuka大塚電子 MCPD-6800 多通道光譜儀MCPD-6800 是一款基礎光譜測量與分析系統。它能夠即時測量光譜，其可自由配置的測量光學系統和豐富的選...

otsuka大塚電子 MCPD-9800 多通道光譜儀這是一款多功能多通道光譜檢測器，覆蓋紫外到近紅外波段。它可在短短 5 毫秒內完成光譜測量。

otsuka大塚電子 SF-3/1300 高速光譜測厚儀該設備可在研磨和拋光過程中以超高速、實時、高精度非接觸式測量晶圓和樹脂。

otsuka大塚電子 SF-3/800 超高速光譜干涉式該設備可在研磨和拋光過程中以超高速、實時、高精度非接觸式測量晶圓和樹脂。