| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子/電池,綜合 |
透明、黑色、高反光材質難測?SuperView W1白光干涉儀一鍵掃描測量透明高反光材質工件,無懼復雜表面!
材質適應性——搞定難測表面
傳統測量設備往往挑材質:太亮了反光,太黑了吸光,透明的測不到。SuperView W1系列打破了這一局限。它具備的樣件測量能力非常強,單一掃描模式即可滿足從超光滑到粗糙、從鏡面到全透明甚至黑色材質的所有類型樣件表面測量。
1.多區域自動測量:支持方形或圓形陣列點位,一鍵實現自動條紋搜索與掃描。
2.大尺寸拼接:配合影像導航,支持數千張圖像的無縫拼接,輕松應對大尺寸樣件。
3.復雜形貌分析:提供粗糙度、幾何輪廓、結構、頻率及功能五大分析模塊。
不用再為特殊材質的測量發愁,W1助您輕松獲取真實的微觀幾何輪廓與粗糙度數據。


效率至上——自動化帶來的降本增效
在批量檢測中,時間就是成本。SuperView W1系列不僅僅是一臺測量儀,更是您的效率倍增器。
我們深知企業對效率的渴望,因此在軟件功能上做了深度優化:
1.一鍵批量分析:可根據需求定制數據處理和分析模板,針對同類型參數實現一鍵批量分析,大幅節省人工操作時間 。
2.編程測量功能:預先配置好處理和分析步驟,結合自動單測量功能,實現真正的“一鍵測量” 。
3.報表自動導出:支持Word、Excel、PDF格式,圖像與數值結果自動生成,無需人工整理 。
選擇W1白光干涉儀一鍵掃描測量透明高反光材質工件,就是選擇更高效的質檢流程,讓您的每一分投入都轉化為實實在在的產能。
如需產品演示視頻、行業案例手冊或免費樣品測試,可聯系客服獲取。
注:產品參數與配置以實際交付為準,中圖儀器保留根據技術升級調整相關內容的權利,恕不另行通知。



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