SuperViewW1 0.1nm形貌重復性白光干涉儀

中圖儀器SuperView W系列0.1nm形貌重復性白光干涉儀：高精度3D表面測量解決方案，賦能工業檢測升級。

還在為復雜表面測量難題發愁？超光滑/粗糙材質、納米/微米級精度、批量檢測效率低等問題，中圖儀器SuperView W光學輪廓儀一站式解決！兼具多場景適配性、高精度測量、智能化操作三大核心優勢，讓工業檢測更高效、更精準、更省心，成為B端企業提升質檢水平的核心利器。

一、核心亮點

1. 全場景覆蓋：單一掃描模式適配超光滑到粗糙、鏡面到全透明/黑色材質，從納米到微米級工件的粗糙度、平整度、微觀輪廓等參數均可精準測量，無需更換設備即可滿足多類產品檢測需求。

2. 高精度+大范圍雙突破：復合型EPSI重建算法解決傳統技術瓶頸，自動拼接功能支持方形、圓形等多種模式，數千張圖像無縫拼接，超光滑凹面弧形掃描也能實現無重疊縫隙重建。

3. 高效自動化降本增效：一鍵完成單/多區域自動測量、批量分析，編程測量功能可預設流程實現一鍵操作，單個精細器件測量用時短，大幅提升檢測 throughput。

二、核心功能

1. 測量能力：覆蓋全類型樣件表面，無需切換測量模式，適配從精密器件到批量工件的多樣化檢測場景。

2. 自動化體驗：操縱桿便捷操控所有軸位，支持陣列式多區域測量、Mark點自動定位校正，批量樣品切換測量點位無需重復調試。

3. 數據處理與導出：內置去噪、濾波等四大數據處理模塊，粗糙度、幾何輪廓等五大分析功能，支持Word/Excel/PDF格式報表導出，滿足質檢存檔與數據分析需求。

4. 穩定與安全保障：氣浮隔振底座隔絕振動干擾，0.1nm分辨率環境噪聲評價功能確保數據精準；雙重鏡頭防撞保護、光源自動熄燈設計，降低設備損耗與操作風險。

三、自研軟件平臺：適配多機型，拓展性更強

Xtremevision Pro第二代3D測量軟件平臺，集成圖像掃描、3D分析、影像測量、自動化測量四大模塊，適配中圖W/VT/WT系列所有3D儀器機型。支持白光干涉與共聚焦顯微鏡自動切換，可直接測量微觀平面輪廓的距離、角度、半徑等參數，搭配靈活自動拼接功能，自定義測量區域無限制。

四、應用場景

廣泛應用于精密制造、電子半導體、汽車零部件、新材料、醫療器械等領域，可對產品表面粗糙度、磨損/腐蝕情況、臺階高度、加工缺陷、孔隙間隙等形貌特征進行精準測量分析，為產品質量控制、工藝優化提供可靠數據支撐。

五、合作邀約

SuperView W系列0.1nm形貌重復性白光干涉儀助力企業提升質檢效率、降低成本、保障產品品質。現面向全國制造企業、檢測機構、科研單位開放合作，提供定制化測量解決方案與專業技術支持。

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