SuperViewW1 白光干涉儀微觀形貌納米級檢測

中圖儀器SuperViewW白光干涉儀微觀形貌納米級檢測，0.1nm縱向分辨率的精度，適配平、滑、透類樣品的全場景測量需求，廣泛應用于超精密制造各核心領域！

1.在光通信領域，可完成800G/1.6T光模塊微透鏡陣列的3D形貌重構，精準獲取曲率半徑、矢高核心參數，保障光路耦合效率；

2.半導體行業中，針對晶圓減薄后的超光滑表面做Sa0.2nm級粗糙度定量檢測，為工藝優化提供精準數據；

3.3C電子領域，能提取并量化手機玻璃屏、晶圓表面微小劃痕、凹坑的深度與位置，實現微米級瑕疵精準檢測；

4.光學加工行業，適配透明光學膜片、光學透鏡拋光面的三維形貌重建與粗糙度檢測；

5.汽車零部件領域，可完成噴油嘴平面度、精密拋光部件的納米級精度測量。

此外，設備支持大面積圖像無縫拼接，能高效完成超光滑大尺寸工件的全表面檢測，一臺設備覆蓋半導體、光通信、3C、光學加工、汽車等多行業核心檢測場景，適配企業從研發到量產的全流程質檢需求。

自研3D顯微測量軟件平臺Xtremevision Pro

全自主開發的第二代顯微3D測量軟件平臺，集成了圖像掃描、3D分析、影像測量、自動化測量等四個大的功能模塊，能夠適配中圖W系列、VT系列、WT系列所有3D儀器機型，可自主識別機型種類，二合一機型可在白光干涉和共聚焦顯微鏡中做到自動切換掃描模式。

Xtremevision Pro 移植了中圖在影像閃測領域的成功經驗，重構了顯微影像測量功能，可針對微觀平面輪廓尺寸的點、線間的距離、角度、半徑等參數進行直接測量和自動匹配測量。

自動化mark點識別坐標定位自動化功能

Mark點影像識別自動坐標位置校正，多區域坐標點自動定位測量與分析，可組合式完成粗糙度、輪廓尺寸的批量自動化測量。

自動拼接功能

支持方形、圓形、環形和螺旋形式的自動拼接測量功能，配合影像導航功能，可自定義測量區域，支持數千張圖像的無縫拼接測量。

立即咨詢！SuperViewW白光干涉儀微觀形貌納米級檢測，不僅能獲得納米級高精度檢測設備，更能享受全流程、定制化、高效率的售后服務，讓企業質檢工作無后顧之憂！

懇請注意：因市場發展和產品開發的需要，本產品資料中有關內容可能會根據實際情況隨時更新或修改，恕不另行通知，不便之處敬請諒解。

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