| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,能源,電子/電池,綜合 |
中圖儀器SuperViewW白光干涉儀微觀形貌納米級檢測,0.1nm縱向分辨率的精度,適配平、滑、透類樣品的全場景測量需求,廣泛應用于超精密制造各核心領域!
1.在光通信領域,可完成800G/1.6T光模塊微透鏡陣列的3D形貌重構,精準獲取曲率半徑、矢高核心參數,保障光路耦合效率;
2.半導體行業中,針對晶圓減薄后的超光滑表面做Sa0.2nm級粗糙度定量檢測,為工藝優化提供精準數據;
3.3C電子領域,能提取并量化手機玻璃屏、晶圓表面微小劃痕、凹坑的深度與位置,實現微米級瑕疵精準檢測;
4.光學加工行業,適配透明光學膜片、光學透鏡拋光面的三維形貌重建與粗糙度檢測;
5.汽車零部件領域,可完成噴油嘴平面度、精密拋光部件的納米級精度測量。

此外,設備支持大面積圖像無縫拼接,能高效完成超光滑大尺寸工件的全表面檢測,一臺設備覆蓋半導體、光通信、3C、光學加工、汽車等多行業核心檢測場景,適配企業從研發到量產的全流程質檢需求。

自研3D顯微測量軟件平臺Xtremevision Pro

全自主開發的第二代顯微3D測量軟件平臺,集成了圖像掃描、3D分析、影像測量、自動化測量等四個大的功能模塊,能夠適配中圖W系列、VT系列、WT系列所有3D儀器機型,可自主識別機型種類,二合一機型可在白光干涉和共聚焦顯微鏡中做到自動切換掃描模式。
Xtremevision Pro 移植了中圖在影像閃測領域的成功經驗,重構了顯微影像測量功能,可針對微觀平面輪廓尺寸的點、線間的距離、角度、半徑等參數進行直接測量和自動匹配測量。
自動化mark點識別坐標定位自動化功能

Mark點影像識別自動坐標位置校正,多區域坐標點自動定位測量與分析,可組合式完成粗糙度、輪廓尺寸的批量自動化測量。
自動拼接功能

支持方形、圓形、環形和螺旋形式的自動拼接測量功能,配合影像導航功能,可自定義測量區域,支持數千張圖像的無縫拼接測量。
立即咨詢!SuperViewW白光干涉儀微觀形貌納米級檢測,不僅能獲得納米級高精度檢測設備,更能享受全流程、定制化、高效率的售后服務,讓企業質檢工作無后顧之憂!
懇請注意:因市場發展和產品開發的需要,本產品資料中有關內容可能會根據實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。
如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯系中圖儀器咨詢。



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